電子工程網(wǎng)
標題:
簡(jiǎn)單判斷iC好壞1
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作者:
zhangjunweiw
時(shí)間:
2011-2-14 15:27
標題:
簡(jiǎn)單判斷iC好壞1
一、不在路檢測
這種方法是在ｉｃ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ｉｃ進(jìn)行 較。
作者:
wongfu72
時(shí)間:
2011-2-15 21:50
麻煩,如果只有一塊IC呢?
作者:
ljc424
時(shí)間:
2011-2-16 13:27
刷下分
作者:
ywwork2011
時(shí)間:
2011-2-26 19:25
不夠實(shí)用�。�！
作者:
514433999
時(shí)間:
2014-5-11 21:30
無(wú)聊的玩意
作者:
Benjoy
時(shí)間:
2014-5-12 01:24
不太懂，向大家學(xué)習！
作者:
ming_10
時(shí)間:
2014-5-30 13:42
作者:
zyr_1215
時(shí)間:
2014-5-30 14:56
太簡(jiǎn)單了。
作者:
joywyc
時(shí)間:
2014-6-4 20:19
這是一種按黑匣子法和比較法的測試，只能判斷IC大的損壞或缺陷，不能判別諸如靜電損傷一類(lèi)隱形故障。
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無(wú)聊的玩意