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標題: namisoft智能云測試平臺如何助力射頻芯片測試? [打印本頁(yè)]

作者: namisoft    時(shí)間: 2023-9-14 16:28
標題: namisoft智能云測試平臺如何助力射頻芯片測試?
  射頻芯片主要應用于無(wú)線(xiàn)通信和雷達系統等領(lǐng)域,其性能直接影響到通信系統的質(zhì)量。而namisoft智能云測試平臺會(huì )為射頻芯片測試提供軟硬件解決方案,實(shí)現高效快速的自動(dòng)化測試,并且給予結果反饋。
  射頻芯片測試的重要性
  射頻芯片能實(shí)現無(wú)線(xiàn)信號的發(fā)送、接收、放大、濾波、解調等功能,被廣泛應用在雷達、無(wú)線(xiàn)通信、衛星通訊等領(lǐng)域。這種對于通信質(zhì)量要求很高,因此射頻芯片測試是非常重要的。而且射頻系統中信號的頻率、相位等參數對通信質(zhì)量影響很大,精度要求高,因此實(shí)現射頻芯片自動(dòng)化測試可以極大提高測試效率和可靠性。
  ATECLOUD射頻芯片自動(dòng)化測試優(yōu)勢
  ns級高精度同步測試
  靈活多工位擴展,高速并行測試,提高測試效率
  支持批量測試
  0代碼開(kāi)發(fā),拖拽封裝指令搭建測試方案和項目,一鍵運行,快速實(shí)現自動(dòng)化測試
  支持表征、功能評估和批量生產(chǎn)評估
  數據分析功能,會(huì )以圖表形式展現匯總的數據,數據變化、波動(dòng)等清晰可見(jiàn)
  根據所需的數據可以自定義數據報告并導出


  ATECLOUD智能云測試平臺解決測試痛點(diǎn)
  人工手動(dòng)測試,效率低,需要提高測試效率和準確性;
  測試產(chǎn)品種類(lèi)繁多,測試方法多樣,客戶(hù)需要靈活的解決方案,以適應未來(lái)的變化和需求;
  記錄測試數據量大,容易出錯,需要提高測試效率和準確性;
  長(cháng)時(shí)間測試,工作量大,需要降低測試成本;
  現有軟件系統迭代繁瑣且耗時(shí),不能持續兼容新產(chǎn)品;
  需要滿(mǎn)足特定的測試需求,如外購配件等;
  需要符合自身芯片測試方法;
  需要尋找國產(chǎn)化替代方案。
  天宇微納研發(fā)的ATECLOUD智能云平臺專(zhuān)注于各類(lèi)儀器自動(dòng)化測試,該平臺簡(jiǎn)單、易上手操作,為用戶(hù)提供整體解決方案,并分析測試結果,給予反饋。






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