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標題: 案例分享：矢網(wǎng)自動(dòng)測試系統怎么檢測晶圓芯片S參數 [打印本頁(yè)]

作者: namisoft 時(shí)間: 2024-7-15 16:12
標題: 案例分享：矢網(wǎng)自動(dòng)測試系統怎么檢測晶圓芯片S參數
　　北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售，其產(chǎn)品廣泛應用于4G、5G移動(dòng)終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領(lǐng)域。該公司與納米軟件合作，旨在通過(guò)NSAT-1000矢網(wǎng)自動(dòng)測試系統實(shí)現與矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀和探針臺的交互，完成晶圓芯片S參數的全自動(dòng)化測試。

　　矢網(wǎng)自動(dòng)測試系統測試晶圓芯片的原理

　　網(wǎng)絡(luò )分析儀自動(dòng)化測試系統通過(guò)GPIB、LAN等通訊線(xiàn)纜與探針臺和網(wǎng)絡(luò )分析儀連接，利用邊緣計算設備ATEBOX調動(dòng)這些儀器及測試流程，實(shí)現晶圓上多個(gè)芯片的連續自動(dòng)化測試。

　　在測試前，系統會(huì )獲取探針臺的狀態(tài)，判斷是否開(kāi)始測試。在測試過(guò)程中，系統會(huì )通過(guò)探針臺獲取當前被測晶圓芯片的坐標信息，并采集網(wǎng)分測試數據，然后發(fā)送相應的信號將測試結果反饋給探針臺。在探針臺獲取到測試結果信息時(shí)，會(huì )自動(dòng)移動(dòng)到下一產(chǎn)品位置，開(kāi)始測試。

　　通過(guò)NSAT-1000，該公司實(shí)現了從半自動(dòng)化測試到全自動(dòng)化測試的轉型，批量測試晶圓芯片，提高了測試效率。

　　自動(dòng)化測試系統程控探針臺

　　在此次項目合作過(guò)程中，系統開(kāi)發(fā)的挑戰之一就是實(shí)現與探針臺的交互通訊。為此，納米軟件技術(shù)人員學(xué)習并掌握探針臺的使用以及操作流程，收集并驗證其操作指令，然后對其指令進(jìn)行二次封裝，通過(guò)GPIB線(xiàn)纜完成與探針臺的完美通訊。測試系統與探針臺的交互，包括以下內容：
　　1. 系統告知探針臺流程開(kāi)始
　　2. 系統獲取探針臺狀態(tài)，判斷是否可以開(kāi)始測試
　　3. 系統從探針臺獲取當前被測晶圓芯片的坐標
　　4. 系統向探針臺反饋當前產(chǎn)品測試結果

　　自動(dòng)化測試系統程控網(wǎng)絡(luò )分析儀
　　在系統中封裝對應網(wǎng)絡(luò )分析儀型號的操作指令，通過(guò)LAN通訊線(xiàn)纜將其與系統連接。在測試過(guò)程中，系統會(huì )采集網(wǎng)絡(luò )分析儀上的測試數據，并以Pass、Fail指標判斷當前被測產(chǎn)品的結果。

　　矢網(wǎng)自動(dòng)測試系統區別于傳統自動(dòng)化測試系統，可以適應未來(lái)測試需求的變化，靈活調整測試項目，減少了系統維護成本。更重要的是，系統實(shí)現了數據的統一匯總管理，發(fā)揮數據有效價(jià)值。關(guān)于NSAT-1000更多詳情可訪(fǎng)問(wèn)：https://www.namisoft.com/solution/spzjcsxt/473.html

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