準備測試設備：需要一個(gè)能夠提供穩定且可調節溫度環(huán)境的恒溫箱或加熱臺、高精度數字萬(wàn)用表或電橋用于測量電阻值、以及數據記錄系統。
選擇測試點(diǎn)：根據被測電阻的技術(shù)規格書(shū)，確定要測試的溫度范圍和特定溫度點(diǎn)。常見(jiàn)的測試點(diǎn)包括室溫（如25°C）、低溫極限和高溫極限。
初始測量：在基準溫度（通常是室溫25°C）下，使用高精度數字萬(wàn)用表或電橋精確測量并記錄電阻值 R0R0。
調整溫度：將待測電阻置于恒溫箱中，并設置到第一個(gè)測試溫度點(diǎn)。等待足夠的時(shí)間讓電阻達到熱平衡狀態(tài)（這可能需要幾分鐘到幾十分鐘不等，具體取決于電阻的熱容量及其與環(huán)境的熱交換速度）。
測量電阻值：一旦達到熱平衡，再次測量并記錄此時(shí)的電阻值 RtRt。
重復步驟：對所有預定的溫度點(diǎn)重復步驟4和5，確保在每個(gè)溫度點(diǎn)都獲得了準確的電阻讀數。
計算TCR：使用以下公式計算在兩個(gè)溫度點(diǎn)之間的平均TCR：
TCR=(Rt−R0)/R0ΔT×106(單位: ppm/°C)TCR=ΔT(Rt−R0)/R0×106(單位: ppm/°C)
其中，RtRt 是在溫度 tt 下的電阻值，R0R0 是在基準溫度下的電阻值，ΔTΔT 是相對于基準溫度的變化量（即 t−t0t−t0，其中 t0t0 為基準溫度）。
分析結果：根據實(shí)際應用需求評估所測得的TCR值是否符合預期。對于精密電阻，期望的TCR值通常非常低，例如 ±5 ppm/°C 或更低。