測試測量資料下載列表

完整DAQ系統開(kāi)發(fā)指南

基于計算機的DAQ系統提供了一個(gè)比傳統系統更強大,更靈活和更有效益的測試測量解決方案。為了充分利用這一數據采集方法,因此,當您選擇您 ...
2012年01月11日 12:15   |  
NI   測試測量   數據采集  

數據采集常規應用概覽

了解數據采集在測量與顯示、數據記錄、控制、測試自動(dòng)化、監測、原型方面的應用,了解如何采用軟件自定義手段節省時(shí)間并優(yōu)化測試、監測或控 ...
2012年01月11日 12:11   |  
NI   測試   監測   控制   數據采集  

數據采集技術(shù)文章精選

本資源包精選最新數據采集技術(shù)文章,包括DAQmx常見(jiàn)問(wèn)題解答、DAQmx函數、如何利用以軟件為核心的虛擬儀器技術(shù)降低測量應用總成本等,幫您更 ...
2012年01月11日 11:46   |  
NI   測量   數據采集   虛擬儀器  

虛擬儀器技術(shù)課程與實(shí)驗開(kāi)課指導

該開(kāi)課指導適用于本科或研究生階段《虛擬儀器技術(shù)》及相關(guān)課程(可用于儀器、電子、電氣、自動(dòng)化、機械、汽車(chē)、醫電等學(xué)科的專(zhuān)業(yè)課,亦可用 ...
2012年01月11日 11:41   |  
NI   課件   虛擬儀器   院校  

用戶(hù)故事:使用LabVIEW無(wú)縫集成多種硬件

視頻內容為一位工程師講述在設計軌道交通信號自動(dòng)控制項目時(shí),通過(guò)使用LabVIEW集成多種硬件,設計團隊快速開(kāi)發(fā)出龐大且復雜系統的原型機, ...
2011年12月14日 16:50   |  
LabVIEW   NI   美國國家儀器   原型  

用戶(hù)故事:使用LabVIEW加速應用創(chuàng )新

視頻內容為一位大學(xué)老師講述如何在課堂上將理論和實(shí)踐緊密聯(lián)系起來(lái),通過(guò)指導學(xué)生利用LabVIEW 進(jìn)行創(chuàng )新項目,更好地達到了教學(xué)效果。 下 ...
2011年12月14日 16:47   |  
LabVIEW   NI   創(chuàng )新   美國國家儀器  

用戶(hù)故事:使用LabVIEW提升應用效率

視頻內容為一位工程師講述結合LabVIEW與PXI硬件,迅速縮短系統開(kāi)發(fā)周期,而不需花繁復的精力在復雜的硬件設計和編碼編程中。希望對您的具體 ...
2011年12月02日 13:48   |  
LabVIEW   NI   美國國家儀器  

NIDays2011電子產(chǎn)品測試應用資源包

NIDays是NI全年最大技術(shù)盛會(huì )。作為本屆會(huì )議七大專(zhuān)題之一,電子產(chǎn)品測試應用深入剖析測試中的信號分析,介紹如何快速構建混合信號測試系統以 ...
2011年12月02日 13:16   |  
NI   PXI   信號測試   信號處理  

NIDays2011自動(dòng)化測試測量平臺資源包

NIDays是NI全年最大技術(shù)盛會(huì )。作為本屆會(huì )議七大專(zhuān)題之一,自動(dòng)化測試測量平臺帶您了解PXI技術(shù)與發(fā)展、模塊化射頻應用平臺,以及基于FPGA技 ...
2011年12月02日 12:13   |  
NI   PXI   RF   RIO  

AIBUS廈門(mén)宇電AI系列儀表通訊協(xié)議

AIBUS廈門(mén)宇電AI系列儀表通訊協(xié)議
2011年11月29日 08:50   |  
儀表  

25XPRO V1.1完整原理圖

25XPRO V1.1完整原理圖
2011年11月29日 08:41   |  
25XPRO  

16點(diǎn)導電檢測儀(開(kāi)機自檢).

16點(diǎn)導電檢測儀(開(kāi)機自檢).
2011年11月29日 08:40   |  
檢測儀  

吉時(shí)利新的2401型數字源表-業(yè)界最低成本單機SMU

像所有2400系列數字源表一樣,2401具有精密電壓源和電流源及測量功能(1μV–20V和10pA–1A)。2401既是高度穩定的直流電源也是真儀器級的5 ...
2011年11月24日 14:02   |  
2401   SMU   吉時(shí)利   數字源表  

多點(diǎn)測試中的開(kāi)關(guān)

在測量系統設計的過(guò)程中選擇合適的開(kāi)關(guān)是一件極其重要但有時(shí)又會(huì )被忽視的工作。實(shí)際上,開(kāi)關(guān)選擇的重要性不亞于系統測試儀的選擇或者測試接 ...
2011年11月24日 13:58   |  
開(kāi)關(guān)  

吉時(shí)利的最新電子書(shū):低電流、高電阻的精密測量

測試和分析金屬材料、低溫超導體、納米級材料、高摻雜半導體、光電二極管暗電流和來(lái)自加速器件的電子束電流需要測量nA級及更低的電流。要么 ...
2011年10月31日 09:31   |  
低電流   電子書(shū)   高電阻   吉時(shí)利   精密測量  

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