硬件設計與調試

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一、針對于第一版硬件電路設計，每個(gè)電源模塊的輸出部分必須加入0歐電阻，每一個(gè)關(guān)鍵的IC供電部分必須加入0歐電阻；這樣做的目的是初次調試的時(shí)候可以測試每個(gè)電源模塊供電是否正常，否則的話(huà)一旦電源輸出不正常，很難斷定是哪一塊出了問(wèn)題；給關(guān)鍵IC供電部分加入0歐電阻也是這個(gè)原因；
二、對于隔離電源模塊，比如金升陽(yáng)的隔離電源模塊，其輸入的地和輸出的地是隔離的。所以如果想測試隔離電源模塊的輸出電壓是否正確，地的選擇就非常關(guān)鍵。一定不要選擇隔離之前的地來(lái)測量隔離后的電壓，這樣是測試不出來(lái)的。
三、對于程序下載的問(wèn)題。很多時(shí)候，程序下載不進(jìn)去，排除了接線(xiàn)的問(wèn)題之后，要考慮復位電路的問(wèn)題，很多時(shí)候是復位電路部分的電容過(guò)大，導致電路無(wú)法復位，所以無(wú)法下載；另一方面，下載程序的時(shí)候，單片機的晶振是不需要工作的，因為整個(gè)過(guò)程類(lèi)似于往eeprom里寫(xiě)入數據，只要有時(shí)鐘，數據，單片機供電正常就行。晶振起作用是在單片機正常工作的時(shí)候。這個(gè)可能不是很好理解。

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