可測量10kHz-100MHz晶振的測試電路

發(fā)布時(shí)間：2009-12-28 10:12    發(fā)布者：我愛(ài)電路圖
關(guān)鍵詞： 測試電路
筆者利用簡(jiǎn)單幾個(gè)元件制作一個(gè)可測量10kHz-100MHz晶振的測試電路（電路如圖），BG1和所接阻容元件構成多頻振蕩器，經(jīng)C3、D1、D2進(jìn)行檢波后可在LED上得到下正上負的電壓，驅動(dòng)LED發(fā)光。

若晶振已壞，LED不亮�？蓪⒋诵‰娐钒惭b在維修用的電源上，留兩個(gè)插測晶振元件的小孔。



制作中應注意：晶振的兩條引出線(xiàn)不能相距過(guò)近，否則振蕩幅度大大減小導致發(fā)光管不亮。
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