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STF22NM60N 600V MDmesh™ II N 溝道功率 MOSFET 晶體管
產(chǎn)品描述
STF22NM60N 是采用第二代 MDmesh™ 技術(shù)開(kāi)發(fā)的 N 溝道功率 MOSFET 晶體管。
特性
100% 經(jīng)過(guò)雪崩測試
低輸入電容和柵極電荷
低柵極輸入電阻
應用
開(kāi)關(guān)應用
帶 R2Coupler™ 隔離功能的 QCPL-A58JV-500E 汽車(chē)光 MOSFET
產(chǎn)品描述
QCPL-A58JV-500E 由一個(gè) AlGaAs 紅外發(fā)光二極管 (LED) 輸入級與一個(gè)高壓輸出檢測器電路光學(xué)耦合組成。檢測器由高速光電二極管陣列和驅動(dòng)電路組成,用于接通/斷開(kāi)兩個(gè)分立式高壓 MOSFET。光 MOSFET 打開(kāi)(觸點(diǎn)閉合)時(shí),通過(guò)輸入 LED 的最小輸入電流為 7 mA。輸入電壓為 0.4V 或更低時(shí),光 MOSFET 關(guān)斷(觸點(diǎn)打開(kāi))。
特性
擊穿電壓,BVDSS:IDSS = 250 µA 時(shí)為 1500V
雪崩額定 MOSFET
低關(guān)態(tài)漏電:
- 在 VDS = 1000V 時(shí),QCPL-A58JV 的 IOFF < 1 µA
- VDS = 1000V 時(shí),QCPL-A58JT 的 IOFF < 5 µA
導通電阻,在 ILOAD = 10 mA 時(shí),RDS(ON) < 250Ω
開(kāi)啟時(shí)間: TON < 4 ms
關(guān)斷時(shí)間: TOFF < 0.5 ms
封裝:300 密耳 SO-16
爬電距離和間隙 ≥ 8 mm(輸入-輸出)
間隙 > 5 mm(MOSFET 漏極引腳之間)
安全和監管認證:
- IEC/EN/DIN EN 60747-5-5
- 最大工作絕緣電壓 1414 VPEAK
- 1 分鐘 5000 VRMS,符合 UL1577 標準
- CSA 元件驗收
應用
電池絕緣電阻測量/泄漏檢測
用于檢測電池的 BMS 飛行電容器拓撲結構
IPB029N15NM6 150V OptiMOS™ 6 N 溝道功率 MOSFET 晶體管
產(chǎn)品說(shuō)明
IPB029N15NM6 OptiMOS™ 6 150 V 正常電平在競爭激烈的 150 V 市場(chǎng)中創(chuàng )造了新的性能水平。
OptiMOS™ 6 150 V 技術(shù)旨在滿(mǎn)足高、低開(kāi)關(guān)頻率應用以及硬開(kāi)關(guān)和軟開(kāi)關(guān)的要求。
特點(diǎn)
RDS(on) 比 OptiMOS™ 5 低 40
150 V 時(shí)的業(yè)界最低 Qrr
與 OptiMOS™ 5 相比,二極管軟性得到改善
+/-500 mV 的嚴格 Vgs(th) 分布
高雪崩堅固性
最大 Tj 為 175°C 和 MSL1
優(yōu)勢
低導通和開(kāi)關(guān)損耗
穩定運行,改善 EMI
并聯(lián)時(shí)可更好地分擔電流
穩健性增強
提高系統可靠性
應用
輕型電動(dòng)汽車(chē) (LEV)
電機控制
電動(dòng)工具
明佳達,星際金華供應MOSFET 晶體管:STF22NM60N,QCPL-A58JV-500E,IPB029N15NM6
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