IEC新增濾波器材料透過(guò)率標準,三安方案推動(dòng)全球產(chǎn)業(yè)鏈工藝革新

發(fā)布時(shí)間:2025-3-12 16:37    發(fā)布者:科技新思路
國際電工委員會(huì )(IEC)正式發(fā)布了《聲表面波器件用單晶晶片規范與測量方法》(IEC 62276:2025),首次明確了壓電材料的光學(xué)性能標準。三安濾波器晶體團隊以在材料端的研發(fā)經(jīng)驗,在關(guān)于透過(guò)率(晶片黑化程度)的相關(guān)技術(shù)要求和相應測量方法中做出重要貢獻。
  隨著(zhù)5G通信和物聯(lián)網(wǎng)終端向高頻化、微型化加速發(fā)展,聲表面波(SAW)濾波器作為射頻前端的核心組件,承擔著(zhù)信號選頻的關(guān)鍵功能。據Yole Développement預測,到2026年,全球聲表面波濾波器市場(chǎng)規模將達55億美元。智能終端對濾波器數量和性能的需求激增,推動(dòng)材料技術(shù)向更高一致性、更優(yōu)光學(xué)性能演進(jìn)。
  2025年3月7日,國際電工委員會(huì )(IEC)正式發(fā)布《聲表面波器件用單晶晶片規范與測量方法》(IEC 62276:2025),首次將壓電材料的光學(xué)性能(透過(guò)率/黑化程度)納入國際標準。該標準由中國企業(yè)主導修訂,標志著(zhù)我國在高端壓電材料領(lǐng)域實(shí)現從技術(shù)跟隨到規則制定的跨越。
  泉州三安集成(原晶安光電團隊)依托三安光電二十余年的化合物半導體研發(fā)制造經(jīng)驗,持續投入LN/LT壓電材料制備工藝的研發(fā),逐步掌握成熟的晶片黑化工藝。團隊自2016年深度參與該項目的標準論證,在透過(guò)率的相關(guān)技術(shù)要求和相應測量方法與項目其他成員協(xié)作,討論及驗證試驗,提出了多項技術(shù)性修改內容,納入了新標準中主要的修訂內容之一。
  三安擁有國內少有的濾波器垂直整合產(chǎn)業(yè)鏈,構建射頻前端芯片整合解決方案制造平臺,持續加強工藝和材料的研發(fā)投入,積極投身行業(yè)標準的制定和提升,促進(jìn)行業(yè)協(xié)同發(fā)展和產(chǎn)品質(zhì)量標準提升,為全球頭部射頻設計公司提供可靠的芯片制造服務(wù)。

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