T/R組件一般是指無(wú)線(xiàn)收發(fā)系統中射頻與天線(xiàn)之間的部分，主要被用于相控陣雷達及通信領(lǐng)域。T/R組件的產(chǎn)品性能和技術(shù)要求較高，因此需要采取嚴格的測試措施來(lái)提升產(chǎn)品質(zhì)量。

T/R組件具有品種多、數量大和集成度高的特點(diǎn)。針對數字T/R組件的檢測手段，需要具備快速切換以適應新產(chǎn)品的能力，較高的檢測效率以及較好的測試性能。當前主流的檢測措施主要分為三大類(lèi)，分別是光學(xué)檢測、針床措施及飛針測試。

1、 AOI光學(xué)檢測

光學(xué)測試儀通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描被測器件，采集圖像，測試的焊點(diǎn)與數據庫中的合格的參數進(jìn)行比較，經(jīng)過(guò)圖像處理，發(fā)現缺陷。AOI系統誤判率和缺陷檢測靈敏度會(huì )受檢查參數的影響。光學(xué)檢測儀無(wú)法檢查隱形的焊接缺陷、無(wú)標識元件和元件失效等問(wèn)題，測試覆蓋率較低。

2、 針床測試

針床也叫ICT測試治具，利用電性能對在線(xiàn)元器件進(jìn)行測試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種非標準測試輔助夾具。它主要用于檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò )的開(kāi)、短路、焊接等情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準確等特點(diǎn)。

3、飛針測試

飛針測試可實(shí)現高速移動(dòng)和精確定位，測試探針連接至測量單元，測量單元包括驅動(dòng)器（信號發(fā)生器和電源等）和傳感器（數字萬(wàn)用表和頻率計數器等）。工作時(shí)測量單元通過(guò)飛針探針接觸被測電路的焊盤(pán)、器件引腳或接口，來(lái)對被測單元上的元件進(jìn)行多種電氣測量。

在針對數字T/R組件的測試中，相比光學(xué)檢測和針床測試等測試方法，飛針測試方法表現出明顯的優(yōu)勢。飛針測試通過(guò)軟件編程實(shí)現針對不同被測對象的適配，提高了新產(chǎn)品測試開(kāi)發(fā)的效率；無(wú)需制作測試夾具，降低了測試成本；通過(guò)高精度步進(jìn)電機精確控制探針接觸點(diǎn)，可以實(shí)現很高的定位精度，提高測試分辨率；測量單元直接連接探針，可實(shí)現更高性能的測試。鑒于飛針測試具有可快速完成測試開(kāi)發(fā)、測試成本較低和測試精度高等優(yōu)點(diǎn)，使之成為適合數字T/R組件檢測的高效措施之一。

在T/R模塊批量生產(chǎn)過(guò)程中，飛針測試可作為AOI光學(xué)檢測的補充，采用全檢或隨機生產(chǎn)抽取的方法，將光學(xué)檢測余留下的檢測盲點(diǎn)采用飛針測試進(jìn)行檢測，從而在功能測試前即可檢測出大部分故障組件，提高功能測試直通率。

以上就是飛針測試技術(shù)在T/R組件檢測中的簡(jiǎn)要介紹，更多電子自動(dòng)化測試技術(shù)請關(guān)注下期分享。