納米軟件芯片測試帶你走進(jìn)啟動(dòng)電壓與欠壓鎖定

正文摘要:

　　每種芯片在設計階段都會(huì )對一些核心指標參數進(jìn)行提前的計算規劃，而在芯片生產(chǎn)之后，也會(huì )對這些核心參數進(jìn)行測試，兩組數據進(jìn)行對比以便了解生產(chǎn)的芯片指標參數是否在當初設計時(shí)的規定范圍之內，從而整體把控芯片 ...