電源芯片測試環(huán)境 測試環(huán)境是影響電源芯片測試精準度的因素之一，在測試過(guò)程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下，電源芯片測試需要在以下環(huán)境下進(jìn)行： 溫度：25±2℃ ...
組圖打開(kāi)中，請稍候......
收藏
頂
踩