電源芯片測試系統助力4644 dcdc電源芯片項目測試

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      電源芯片測試環(huán)境
　　測試環(huán)境是影響電源芯片測試精準度的因素之一，在測試過(guò)程中要盡量將環(huán)境干擾降到最低。通常情況下，電源芯片測試需要在以下環(huán)境下進(jìn)行：
　　溫度：25±2℃
　　濕度：60%~70%
　　大氣壓強：86kPa~106kPa

　　4644電源管理芯片測試設備
　　測試電源管理芯片用到的儀器主要有：
　　直流電源
　　電子負載
　　數字萬(wàn)用表
　　示波器
　　隨著(zhù)對電源芯片的性能和質(zhì)量要求越來(lái)越高，自動(dòng)化測試系統已成為電源管理芯片測試的重要組成部分。在電源芯片自動(dòng)化測試過(guò)程中，除了上述測試設備外，還需要一套自動(dòng)測試系統，與測試儀器集成在一個(gè)測試柜中，完成電源芯片項目的自動(dòng)化測試。

　　納米軟件在A(yíng)TECLOUD測試平臺基礎上開(kāi)發(fā)了NSAT-2000電源管理芯片測試系統，用于測試4644系列電源管理芯片以及其它電源芯片。該系統可兼容4644系列產(chǎn)品的測試，只需一套系統即可測試，節省了額外開(kāi)發(fā)系統的成本。
　　為了提升測試工作效率，加快電源芯片測試速度，電源芯片測試系統的自動(dòng)化測試柜支持兼容測試工裝，通常由測試公板和子板組成，只需替換測試子板來(lái)檢測不同規格、型號的電源芯片。

　　4644微模塊測試項目
　　完整全面檢測電源芯片的性能，一般需要測試以下項目：
　　1. 輸入電壓范圍：在測試時(shí)改變產(chǎn)品的輸入電壓，測量產(chǎn)品在設定輸入范圍內是否正常輸出。
　　2. 輸出電壓范圍：在測試時(shí)通過(guò)改變產(chǎn)品輸出端的分壓電阻，測量產(chǎn)品是否正常輸出。
　　3. 輸出紋波：測量直流電壓的交流成分和噪聲，通過(guò)測量其波形的峰峰值，判斷產(chǎn)品輸出的穩定程度。其峰峰值越小，產(chǎn)品越穩定。
　　4. 電壓調整率：檢測輸入電壓變化對輸出電壓的影響，電壓調整率越小說(shuō)明影響越小，電源芯片性能就越穩定。
　　5. 負載調整率：用來(lái)檢測負載變化對輸出電壓的影響，通常性能穩定的電源芯片負載調整率較小。
　　6. 反饋端電壓：是測量每路對應的FB引腳電壓。
　　7. 欠壓關(guān)斷：在輸入電壓過(guò)低的時(shí)候，輸出就會(huì )停止工作即輸出為0，欠壓關(guān)斷就是測量輸出端停止工作時(shí)的輸入電壓，稱(chēng)之為關(guān)斷點(diǎn)。
　　8. 欠壓恢復滯后：輸入電壓從關(guān)斷點(diǎn)升高至輸出恢復正常，此時(shí)恢復點(diǎn)和關(guān)斷點(diǎn)存在壓差即為欠壓恢復滯后。
　　除此之外，還需要測試輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制、啟動(dòng)過(guò)沖、啟動(dòng)延時(shí)、負載躍變電壓、效率測試、效率曲線(xiàn)等等。

　　電源芯片測試是保證電源管理芯片質(zhì)量和性能的關(guān)鍵環(huán)節，在測試過(guò)程中要符合相關(guān)標準，確保測試的可靠性和準確性。電源管理芯片測試系統詳情具體可了解：https://www.namisoft.com/solution/dyglxpcsxt/474.html