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NI公司供稿 您是否聽(tīng)到有人抱怨每天要為4G電話(huà)充電兩次？很遺憾，他對自己的手機并不太滿(mǎn)意。 隨著(zhù)人們對高速數據讀寫(xiě)的需求與日俱增，而電池的容量卻無(wú)法跟上通信技術(shù)前進(jìn)的步伐，這種現象一直屢見(jiàn)不鮮。 這并不是電池的問(wèn)題，而是我們需要一種技術(shù)來(lái)使手機放大器變得更為強大。 過(guò)去普遍采用普通的DC-DC轉換器來(lái)控制手機電池電量流入不同的芯片。 這包括將手機信號驅動(dòng)回基站的功率放大器(PA)，對于2G和3G信號，由于峰均功率比(PAPR)相對較小，該功率放大器可以很好地工作。 但隨著(zhù)技術(shù)從GSM發(fā)展到GPRS、WCDMA直至HSPA，PAPR也大幅升高。 現在LTE或4G具有非常高的PAPR，極大影響了手機的耗電量。 圖1顯示的是基于設備電池特定功率輸入的典型PA輸出隨技術(shù)發(fā)展的變化。 
圖1.不同無(wú)線(xiàn)標準的PAPR演示： 該圖顯示的是一個(gè)典型PA的電池輸入功率(Pin)和輸出功率之比。信號功率壓縮隨著(zhù)不同的PA設計而異，但PAPR則保持不變。 DC-DC轉換器在信號功率達到峰值時(shí)以線(xiàn)性方式吸收設備電池的電量，這種效率并不高。 提高電能效率的一種方式是預測手機信號的峰值，然后僅向PA提供所需的電量。這種供電方式稱(chēng)為功率包絡(luò )跟蹤(ET)。 圖2顯示的是ET方法。
圖2. 當傳輸波形（以紅色標示）的功率不為峰值時(shí)，ET供電方法（以藍色標示）可減少電能的浪費。 在過(guò)去十年中，功率包絡(luò )跟蹤技術(shù)已經(jīng)解決了基站的這一難題，不僅節省了功耗，還可防止過(guò)熱，這是由于PA可以處理大約200W或更高的功率。 現在，半導體技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到一定程度，DC-DC轉換器可用于移動(dòng)設備，可為PA提供所需的調制功率，這種技術(shù)出現得非常及時(shí)，因為L(cháng)TE等4G技術(shù)正在不斷地迫使人們提高PA的效率。 現在我們如何測試這一新技術(shù)？ 以下是一個(gè)PA測試解決方案的測試流程概述。 ET測試的挑戰 ET測試使得原本就非常復雜的系統變得更為復雜。 采用ET技術(shù)的第一個(gè)挑戰就是生成調制的供電電源，該電源需要高達2W的功率和數十兆赫茲的帶寬。 這些要求對于電源來(lái)說(shuō)并不常見(jiàn)，因此許多PA制造商使用經(jīng)改良的DC-DC轉換器來(lái)執行功率調制。 這些芯片可接受直流電源、用于控制放大器增益的包絡(luò )波形以及用于控制芯片的一些數字線(xiàn)的輸入。 輸出是一個(gè)高功率調制波形，用于提高待測放大器的放大功能。 詳見(jiàn)圖3了解典型的RF PA測試設置，該設置已進(jìn)行擴展，可支持ET。
圖3. 圖為RF PA測試的典型配置，可實(shí)現包絡(luò )跟蹤。 從測試和特征記述的角度來(lái)看，主要的挑戰在于對執行ET所必需的不同儀器進(jìn)行同步。 最為重要的是，必須以最低程度的抖動(dòng)同步RF信號發(fā)生器和基帶任意波形發(fā)生器(AWG)。 此外，它必須能夠以次納秒的精度偏移基帶包絡(luò )相對于RF波形的延遲。 如果使用傳統臺式儀器，要實(shí)現這一程度的同步是非常困難的，而且還很有可能會(huì )涉及不同廠(chǎng)商的硬件，使應用軟件變得更復雜。 NI簡(jiǎn)化了同步問(wèn)題，并將軟硬件集成到一個(gè)平臺上，從而盡可能地使該流程變得簡(jiǎn)單明了。 PXI背板（見(jiàn) 圖4）可用于路由機箱內實(shí)現同步所需的所有時(shí)鐘和觸發(fā)線(xiàn)，因而無(wú)需外部時(shí)鐘和觸發(fā)來(lái)路由網(wǎng)絡(luò )。 為了實(shí)現次納秒級的同步和可重復性，采用NI-TCLK來(lái)協(xié)調多個(gè)模塊化儀器間的時(shí)鐘和觸發(fā)分布。 如需詳細了解NI-TClk如何以低達20psrms的抖動(dòng)來(lái)同步多個(gè)儀器，請閱讀NI T-Clock技術(shù)用于模塊化儀器定時(shí)和同步。
圖4. 圖為PXI Express背板以及時(shí)鐘和觸發(fā)原理圖。 最后, NI的各種模塊化儀器產(chǎn)品可用作為具有ET功能的RF PA測試設置的每一個(gè)組件。 您也可將完整的PA測試系統集成到一個(gè)PXI機箱和統一的硬件驅動(dòng)API集合，這可極大簡(jiǎn)化系統的集成和測試開(kāi)發(fā)。 1. NI測試解決方案 硬件設置 如果要對標準PA測試解決方案進(jìn)行改良以適應ET測試，必須在系統中添加AWG（見(jiàn)圖3）。 AWG必須能夠驅動(dòng)單端和差分負載，應用常見(jiàn)模式和微分直流偏移、可變增益設置以及靈活的時(shí)鐘選項。 NI PXIe-5451是一款可滿(mǎn)足所有這些需求的400 MS/s雙通道AWG。 它還包含許多板載信號處理函數，其中包括用于脈沖整形和插值的脈沖響應(FIR)濾波、平坦度校正以及可減少軟件預處理的數字上變頻器。了解更多關(guān)于NI PXIe-5451的信息。 在該應用中使用的RF信號發(fā)生器是6.6 GHz NI PXIe-5673E矢量信號發(fā)生器(VSG)，其帶寬超過(guò)100 MHz。 NI PXIe-5673E是由三個(gè)獨立的模塊組成： NI PXIe-5450任意波形發(fā)生器、NI PXIe-5652本地振蕩器和NI PXIe-5611 I/Q矢量調制器。
圖5. NI PXIe-5673E VSG的正面圖展示了三個(gè)獨立的模塊。 圖6顯示的是驗證VSG和AWG同步和重復性所使用的設置。 NI PXIe-5673E VSG用于生成RF波形，NI PXIe-5451用于生成基帶包絡(luò )波形。 NI PXIe-5154 1 GHz數字化儀用于同步驗證，但也可使用任何具有足夠高采樣率和帶寬的示波器。
圖6. 該測試設置驗證了AWG和VSG是同步的。 為了同步AWG和VSG，兩個(gè)設備必須共享同一個(gè)10 MHz參考時(shí)鐘。 參考時(shí)鐘的來(lái)源可以是NI PXI 10 MHz背板時(shí)鐘，也可以是外部提供的10 MHz時(shí)鐘。 軟件 圖7顯示的是生成實(shí)現ET所需的RF和包絡(luò )波形所必需的軟件步驟。 要生成的LTE波形可使用NI LTE工具包來(lái)創(chuàng )建，或從文件中讀取。 然后便可計算包絡(luò )波形，包絡(luò )波形是LTE波形的一個(gè)函數。 您也許還希望進(jìn)行一些額外的信號處理，比如數字預失真或其他濾波操作來(lái)優(yōu)化用于ET的波形。 可對VSG進(jìn)行配置來(lái)生成LTE波形，NI PXIe-5451的配置與NI PXIe-5673E VSG中的NI PXIe-5450 AWG相似（見(jiàn)圖5）。 接著(zhù)包絡(luò )波形便可相對RF波形進(jìn)行時(shí)移，并與用于控制波形生成的硬件腳本一起寫(xiě)入到板載內存中。 （查看下面關(guān)于“波形生成延遲實(shí)現”的內容，了解包絡(luò )波形時(shí)移算法。） 最后，多個(gè)設備可通過(guò)TClk來(lái)進(jìn)行同步和初始化。
圖7. 圖為生成ET所需的RF和包絡(luò )波形所必需的軟件流程簡(jiǎn)圖。 同步基帶包絡(luò )發(fā)生器和RF信號發(fā)生器所需的軟件相對簡(jiǎn)單。 VSG和AWG共享同一參考時(shí)鐘后，NI-TClk便可用于同步環(huán)節。 此時(shí)，對AWG和VSG生成的波形進(jìn)行相位鎖定，兩個(gè)波形之間存在可重復延遲。 該延遲是由于NI-TClk沒(méi)有計算NI PXIe-5450 AWG到NI PXIe-5611 I/Q調制器之間的模擬路徑而產(chǎn)生的（詳見(jiàn)圖5）。 由于該延遲為常數，因此可通過(guò)設置AWG相對于VSG的延遲來(lái)進(jìn)行消除。 對于許多ET應用，AWG相對于VSG的延遲（或VSG相對于A(yíng)WG的延遲）對于找到延遲優(yōu)化設備性能至關(guān)重要。 該延遲必須是可重復的，且具有最低程度的抖動(dòng)，這是因為就算延遲只偏離最佳值幾納秒，也會(huì )使設備的線(xiàn)性度減少若干個(gè)dB。 波形生成延遲實(shí)現 記�。篤SG和AWG之間的延遲控制對于ET芯片測試和特性記述是至關(guān)重要的。 該延遲可通過(guò)在硬件中添加等待采樣和偏移采樣時(shí)鐘或通過(guò)在軟件中使用DSP來(lái)實(shí)現。 雖然在硬件中可實(shí)現該延遲，但是它需要ET波形重新采樣至200 MHz才能指定納秒級分辨率的延遲。 由于并非每個(gè)用戶(hù)都能夠對波形進(jìn)行重新采樣，因此我們更傾向于在軟件中實(shí)現延遲。
2. 結果 在NI LabVIEW系統設計軟件和ANSI C中均附有用于同步波形并可讓用戶(hù)能夠實(shí)現一個(gè)波形相對另一個(gè)波形的皮秒級分辨率延遲的范例代碼。項目范例位于本文結尾處。 圖9 顯示的是使用NI PXIe-5154 1 GHz數字化儀進(jìn)行數據采樣的LabVIEW采樣代碼的典型結果。 在本范例中，基帶包絡(luò )信號僅為經(jīng)換算的LTE波形幅度。 從圖中我們可以看出基帶包絡(luò )與RF波形是一致的。
圖9. RF LTE波形與基帶包絡(luò ) 圖10顯示的是LabVIEW ET演示操作的前面板界面。 除了一些標準的硬件資源控件外，還有其他一些參數也值得說(shuō)明一下。 首先是波形IQ率。 本操作演示中，假定RF和包絡(luò )波形均以相同的速率采樣，速率可以是任意值。 之前我們討論的，如果要以任意量延遲包絡(luò )和RF波形，兩個(gè)波形均要以200 MHz的頻率重新采樣。第二個(gè)重要參量是是AWG相對VSG的延遲控件。 控件實(shí)際上用于控制包絡(luò )相對于RF波形的延遲，可通過(guò)輸入負值來(lái)控制RF波形相對于包絡(luò )的延遲。 從圖9的RF和包絡(luò )波形中,我們很難確定精度為納秒級的波形延遲是否與預期一致。 圖10中的波形圖顯示的是一個(gè)RF和包絡(luò )波形范例導出的數字化標記事件。 使用標尺，可以看到，RF波形相對于包絡(luò )延遲了7 ns，這主要是由于NI PXIe-5611上變頻器的路徑延遲和電纜長(cháng)度差異。 如果要使兩個(gè)波形完全重疊，則 AWG相對于VSG控件應設置為7 ns，如圖11所示。
圖10. LabVIEW ET演示操作前面板: 標記事件從VSG和AWG中導出。 使用標尺，可以看到RF波形相對于A(yíng)WG延遲了7 ns。
圖 11. RF波形和包絡(luò )波形之間的7 ns延遲可通過(guò)延遲AWG 7 ns進(jìn)行補償。 使用傳統的直流電源會(huì )消耗大量的電能，這使得對于LTE功率放大器而言，ET性能就變得至關(guān)重要。 雖然該技術(shù)有望顯著(zhù)提高PA效率，但是修改現有測試和特性記述設置來(lái)適應ET是一件非常困難且成本不菲的挑戰。 借助NI平臺和本文提供的采樣代碼，您可以對現有NI PXI功率放大器測試站進(jìn)行改進(jìn)，以支持ET，且所花費的成本和時(shí)間遠低于傳統臺式設備所要求的。 |
