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隨著(zhù)嵌入式系統設計中的電路越來(lái)越完善、容限越來(lái)越緊張，設計調試和驗證過(guò)程中出現了許多新的問(wèn)題。必須測量短期穩定性、漂移和波動(dòng)等參數，了解電路在測量期間的行為。如果未能迅速發(fā)現難檢問(wèn)題，如間歇性瞬態(tài)信號和毛刺，那么可能會(huì )使項目耽擱幾天或幾周的時(shí)間。 為在更長(cháng)的時(shí)間周期內調試難檢問(wèn)題、測量器件行為，工程師們必須捕獲和分析數千個(gè)測量數據點(diǎn)，這要求記錄大量的數據或追蹤測量趨勢，而傳統精密數字萬(wàn)用表是不能做到這一點(diǎn)的。 泰克 DMM4050 和 DMM4040 臺式萬(wàn)用表提供了一種獨特的功能，滿(mǎn)足了這一需求。TrendPlotTM無(wú)紙化記錄器模式為實(shí)時(shí)捕獲和顯示最小百萬(wàn)分之幾的指標變化提供了簡(jiǎn)單的方法，而沒(méi)有耗時(shí)的設置或自定義編程工作。TrendPlot 利用機載信號處理能力和高性能模數轉換器，把測量指標的時(shí)序轉化成容易存儲和分析的表格，同時(shí)仍保持信息細節。 下載： 
通過(guò)DMM4050和DMM4040萬(wàn)用表的TrendPlot實(shí)現數據日志功能(3MC-24436-0).pdf
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