3700系列提供了易拓展的、儀器級的開(kāi)關(guān)系統與多通道數據采集解決方案，優(yōu)化了電子產(chǎn)品與元器件的自動(dòng)化測試。當集成了高性能萬(wàn)用表后，3700構成了一個(gè)開(kāi)關(guān)與測量緊密結合的系統，既能夠滿(mǎn)足功能性測試的應用需求，又具有多路數據采集器的靈活性。
高性能萬(wàn)用表選件具有低噪聲、高穩定度的三位半到七位半讀數，是目前同類(lèi)產(chǎn)品中的佼佼者。直流測試速度在三位半分辨率設置下>14000次讀數/秒，在七位半設置下為60次讀數/秒，為用戶(hù)提供測試速度與準確度選擇的最大靈活性。該萬(wàn)用表選件還具有擴展的低電阻（1Ω）、低電流（10μA）和干電路（1Ω～2kΩ）測試量程，拓展了常規數字萬(wàn)用表的應用范圍。 ● 可選配高性能萬(wàn)用表的六槽系統開(kāi)關(guān)主機 ● 多個(gè)處理器架構，適合于極高速掃描或開(kāi)關(guān)組態(tài)等應用 ● 基于以太網(wǎng)、USB和GPIB接口的遠程PC控制 ● 一臺主機最高可支持576個(gè)雙線(xiàn)多選器通道 ● 兼容IEEE 1588時(shí)序同步的LXIClass B 附件包括： Test Script Builder CD光盤(pán) 以太網(wǎng)交叉線(xiàn)（CA-180-3A） 3700系列產(chǎn)品CD光盤(pán)（內含LabVIEW®、IVI C和IVI.COM驅動(dòng)）
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