超大規模集成電路測試：數字、存儲器和混合信號系統 蔣安平

發(fā)布時(shí)間：2014-8-1 17:22    發(fā)布者：看門(mén)狗
關(guān)鍵詞： IC測試


【作 者】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著(zhù)；蔣安平，馮建華，王新安譯
【出版商】 電子工業(yè)出版社 , 2005.07
【ISBN號】7-121-01490-4
【頁(yè) 數】 511 ; 26cm

國外電子與通信教材系列:本書(shū)系統介紹了VLSI測試包括數字、存儲器和混合信號三類(lèi)電路測試和可測試性設計。內容包括測試基本概念、測試設備、測試經(jīng)濟學(xué)和故障模型、測試方法等。

超大規模集成電路測試：數字、存儲器和混合信號系統_[蔣安平 譯][電子工業(yè)出版社][200.rar (16 MB)

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rinllow6 發(fā)表于 2014-8-2 11:52:07
謝謝�。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。�！
spy007868 發(fā)表于 2014-8-2 13:16:00
謝謝分享。
urus 發(fā)表于 2014-8-2 20:58:07
謝謝分享
jimcmwang 發(fā)表于 2014-11-5 11:28:14
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jimcmwang 發(fā)表于 2014-11-5 11:28:25
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jimcmwang 發(fā)表于 2014-11-5 11:28:34
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春夏秋冬 發(fā)表于 2015-4-10 08:42:41
謝謝分享！
jimcmwang 發(fā)表于 2015-6-12 18:01:38
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xsj3501 發(fā)表于 2015-8-19 11:06:11
謝謝樓主分享，正需要這個(gè)
radio926 發(fā)表于 2015-9-8 23:48:25
謝謝分享
key330 發(fā)表于 2018-2-19 21:44:53
很不錯的資料，很強大！
jimcmwang 發(fā)表于 2019-8-23 19:19:46
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