射頻連接器的壽命試驗

發(fā)布時(shí)間:2016-3-8 14:26    發(fā)布者:看門(mén)狗
關(guān)鍵詞: 射頻 , 連接器 , 電纜
作者: 朱輝,FindRF

前言

對于一條射頻測試電纜組件,應用工程師不僅關(guān)心其出廠(chǎng)時(shí)的指標,而且更加關(guān)心其使用壽命。

射頻電纜組件的壽命取決于三個(gè)因素:電纜本身的抗彎曲性能,電纜和接頭之間的良好連接及其抗彎曲性能,接頭的壽命。對于前二項因素,可以采取工裝夾具或者規范操作者的動(dòng)作來(lái)保證;而對于接頭的壽命,則只能依賴(lài)接頭本身的質(zhì)量以及裝配工藝來(lái)保證了。

以N型連接器為例,在射頻連接器的國際標準,如美軍標MIL-C-39012和國際電工委員會(huì )IEC 60169-16中,規定了N型(銅材)連接器的插拔壽命是500次。

MIL-C-39012是這樣描述的:在12圈/每分鐘的條件下,最少插拔500次,連接器應滿(mǎn)足配合要求。而IEC 60169-16中則規定了在0.7-1.1Nm的力矩條件下,最少的插拔壽命為500次。

在和射頻測試電纜的使用者的交流中,我們時(shí)?梢月(tīng)到這樣的聲音:500次?太少了,我們至少都要用到幾千次!

之所以有這樣的認識,是因為沒(méi)有了解連接器的各種應用條件和標準中所規定指標的具體含義。仔細分析標準中規定指標的附加條件并結合實(shí)際應用的經(jīng)驗,可以對射頻連接器的壽命定義得出以下結論:

1) 500次的壽命是在N型連接器規定力矩(0.7-1.1Nm)條件下的指標。要達到這個(gè)力矩,需要采用專(zhuān)用的力矩扳手,普通人的正常操作無(wú)法達到這個(gè)力矩。筆者針對N型連接器做過(guò)一個(gè)試驗:當感覺(jué)用手已經(jīng)擰緊時(shí),用標準力矩扳手(Suhner P/N 74 Z-0-0-193)還可以再擰緊將近半圈。

2) 所謂500次壽命的含義是:當按照規定力矩插拔500次之內,所有的電氣指標是保證在出廠(chǎng)指標的規定范圍內。以BXT生產(chǎn)的測試電纜為例(Nm-Nm,1米長(cháng),BXT P/N RG223-03-03-1000A),其出廠(chǎng)指標為插入損耗0.84~1.4dB/dc-3GHz;駐波比為1.15~1.25@dc-3GHz。當插拔500次后,上述指標依然是可以保證的。

3) 除非精密的計量和校準測試,在生產(chǎn)線(xiàn)上,很少采用昂貴的標準力矩扳手來(lái)拆裝射頻連接器,所以說(shuō)在實(shí)際使用時(shí),射頻連接器所承受的力矩要遠小于規定值。同時(shí),靠人力擰緊的連接器完全可以滿(mǎn)足指標的要求。這就給延長(cháng)連接器的使用壽命創(chuàng )造了條件。

4) 作為測試電纜組件的提供商,BXT不會(huì )僅僅希望靠減少力矩來(lái)延長(cháng)射頻連接器的壽命,而是從連接器本身的質(zhì)量來(lái)保證有足夠長(cháng)的使用壽命。

那么,一個(gè)射頻連接器的壽命究竟有多長(cháng)呢?為了獲得一個(gè)相對確切的數據,筆者進(jìn)行了一次射頻連接器的插拔壽命試驗。

射頻連接器的插拔壽命試驗方法

試驗對象是一條長(cháng)度為1米,二端為Nm的RG223測試電纜組件(BXT P/N:RG223-03-03-1000A),被測的Nm接頭的螺套和外導體采用銅鍍三元合金材料,內導體則采用鍍金黃銅。試驗是在以下條件下進(jìn)行的:

1) 試驗針對其中一端的Nm接口,與一個(gè)Nf連接器進(jìn)行對接,采用扳手進(jìn)行連接和拆卸。為了保證精度,采用了不銹鋼材料的Nf接頭,一般情況下,不銹鋼材料的連接器的壽命是1000次,這要比銅材高出整整一倍。

2) 每插拔一次為一個(gè)循環(huán)(圖1),每100次插拔后測量一次電纜組件的插入損耗和被試驗端的接口的駐波,并記錄在2.2GHz頻率點(diǎn)上的數值。試驗共進(jìn)行了2400次。


圖1.射頻連接器的壽命試驗方法

壽命試驗結果

最終測試結果見(jiàn)圖2和圖3,其中圖2(a)為電纜組件在2.2GHz時(shí)插入損耗隨著(zhù)插拔次數的變化,圖2(b)為2.2GHz時(shí)駐波隨著(zhù)插拔次數的變化。


圖2. 射頻連接器的壽命試驗(點(diǎn)頻)

圖2中的紅色趨勢線(xiàn)說(shuō)明,盡管實(shí)測值有些波動(dòng),電纜組件的插入損耗總是隨著(zhù)接頭的磨損而變大;而駐波則無(wú)明顯的劣化現象,其典型值始終保持在1.07~1.09之間。


圖3. 射頻連接器的壽命試驗(掃頻)

圖3是掃頻條件下的插入損耗和駐波變化,分別記錄了在插拔1000次,1600次和2000次情況下從10MHz-3GHz的指標。掃頻結果顯示在整個(gè)工作頻段內,其插入損耗和駐波的變化特征與點(diǎn)頻是一致的。

結論


雖然上述試驗僅僅針對一只射頻連接器,但是從試驗結果依然可以得出一些參考結論:

1) 正常使用前提下,射頻連接器的壽命將會(huì )大大超過(guò)500次的標準值;

2) 在整個(gè)頻段內,沒(méi)有發(fā)現某個(gè)頻點(diǎn)有插入損耗和駐波的跳變現象。

3) 射頻連接器的插入損耗值隨著(zhù)機械磨損而逐漸增加;而駐波則幾乎沒(méi)有變化;從過(guò)程看,似乎沒(méi)有一個(gè)明顯的失效點(diǎn),所以在生產(chǎn)線(xiàn)上,如果沒(méi)有發(fā)現電纜的明顯故障,應建立強制報廢制度,以保證測試指標。
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