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國際化的ATE日企 一般來(lái)說(shuō)，日本企業(yè)的風(fēng)格是嚴謹甚至保守。但愛(ài)德萬(wàn)測試（Advantest）給人的感覺(jué)卻十分開(kāi)放。自2011年收購惠瑞捷（Verigy）之后，Advantest就成了全球最大的半導體自動(dòng)化測試設備（ATE）供應商。Advantest成立于1954年，全球總部位于日本東京。Verigy曾是惠普（HP）的自動(dòng)化測試部門(mén)，2006年從安捷倫（Agilent）剝離出來(lái)并在NASDAQ獨立上市。收購Verigy之后，Advantest不僅公司規模擴大了，而且公司文化也轉向國際化。近日，Advantest在北京召開(kāi)了新聞發(fā)布會(huì )，發(fā)言人分別是Advantest全球市場(chǎng)副總Judy Davies女士、愛(ài)德萬(wàn)測試（中國）管理有限公司副總夏克金博士和愛(ài)德萬(wàn)測試（中國）管理有限公司市場(chǎng)銷(xiāo)售總經(jīng)理陸樂(lè )先生。 中國的半導體測試市場(chǎng) 中國的半導體市場(chǎng)很大，但半導體測試市場(chǎng)很小。原因眾所周知：中國市場(chǎng)消費的大部分半導體芯片都是進(jìn)口的，中國大陸的半導體制造能力依然很弱，自給率僅有10%。相應地，中國大陸對半導體測試設備的需求量自然有限。在A(yíng)dvantest公司2016年一季度的銷(xiāo)售收入中，中國大陸僅貢獻了不到10%。那么，是不是說(shuō)中國市場(chǎng)對于A(yíng)dvantest來(lái)說(shuō)就不重要了呢？并非如此。Advantest認為，中國的半導體產(chǎn)業(yè)正在升級，將來(lái)會(huì )在全球處于領(lǐng)導地位。雖然目前全球前20大IDM半導體廠(chǎng)商中尚無(wú)一家中國大陸廠(chǎng)商上榜，但全球前20名無(wú)晶圓的IC設計公司中中國大陸廠(chǎng)商已經(jīng)占據了四席。2015年，中國大陸半導體廠(chǎng)商的銷(xiāo)售收入比上年增長(cháng)了13%，而同期全球總體則下降了1%。據介紹，在中國最具活力的深圳地區，物聯(lián)網(wǎng)和存儲器芯片的勢頭最為突出，而Advantest在這兩個(gè)領(lǐng)域都提供先進(jìn)的測試系統。 V93000之Wave Scale RF和Wave Scale MX V93000平臺是Advantest的自動(dòng)化測試基石。該家族包括V93000-A、V93000-C、V93000-S和V93000-L等型號，最基礎的8插槽V93000-A僅售10萬(wàn)美元，而最高端的64插槽V93000-L的容量高達8000多個(gè)引腳。該系列平臺完全兼容，用戶(hù)可根據需要進(jìn)行升級擴展，可適用于多種領(lǐng)域的測試需求。 
圖1：V93000自動(dòng)化測試平臺 Wave Scale RF是Advantest近期推出的用于V93000平臺的系列通道卡，既可以測試低成本的物聯(lián)網(wǎng)（IoT）設備，也可以測試高性能的移動(dòng)通信設備。對于物聯(lián)網(wǎng)設備，Wave Scale RF可測試LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee和藍牙等通信協(xié)議；對于移動(dòng)通信設備，它可以應對LTE-A、MIMO、載波聚合等最新通信技術(shù)，甚至CAT 10以上的通信協(xié)議。
圖2：Wave Scale RF測試板卡 Wave Scale RF板卡采用了新的架構，提供高度并行多元件同時(shí)測量，以及元件內部的并行測試，能夠大幅縮減現有RF半導體的測試成本及上市時(shí)間，并且為未來(lái)5G裝置的測試開(kāi)創(chuàng )新途。 Wave Scale MX針對的是混合信號測試。該高速卡具有32組完全獨立的工具，針對模擬IQ基頻應用和高速數模轉換器（DAC）與模數轉換器（ADC）提供最佳化的設計。與Wave Scale RF一樣，Wave Scale MX實(shí)現真正的并行混合信號測試，具有吞吐量大、測試成本低的特點(diǎn)。 T5800存儲芯片測試平臺 T5800是Advantest的可擴展存儲器件測試平臺，可應對快速發(fā)展的移動(dòng)電子設備及網(wǎng)絡(luò )產(chǎn)品對存儲器的最新要求。該平臺可測試所有的存儲器類(lèi)型，包括DRAM、閃存/MCP、非易失存儲器（MRAM、RRAM和PCM）以及下一代移動(dòng)和客戶(hù)端存儲器。該平臺包括T5830、T5831、T5833和T5851型號。T5830是低成本類(lèi)型，該系統非常適合測試采用SPI協(xié)議的NOR和NAND Flash器件，以及那些管腳數較少的Flash器件，諸如智能卡、SIM、EEPROMs、內嵌式Flash等等。
圖3：T5830測試系統 這里重點(diǎn)介紹一下NAND和SSD器件協(xié)議系統級測試設備T5851。由于移動(dòng)設備的大量涌現，嵌入式NAND市場(chǎng)連年增長(cháng)，而且前景會(huì )持續看好。NAND技術(shù)的一個(gè)發(fā)展趨勢是，它正在從eMMC向UFS過(guò)度。預計到2019年，UFS的出貨量將占NAND總體的一半。T5851是一款多協(xié)議系統級測試系統，支持UFS 2.0和PCIe 3.0。T5851具備tester-per-DUT架構和專(zhuān)有的硬件加速器，測試速度快。T5830系列支持模塊化升級，T5831和T5833都可以升級到T5851。 以上介紹的幾款產(chǎn)品都具有高度可擴展性、測試速度快的優(yōu)點(diǎn)，適應行業(yè)發(fā)展趨勢，能滿(mǎn)足中國的IC設計及生產(chǎn)需求。 |
