泰克推出新型中端產(chǎn)品系列TLA6000系列邏輯分析儀

發(fā)布時(shí)間:2010-9-15 10:10    發(fā)布者:嵌入式公社
關(guān)鍵詞: TLA6000 , 列邏輯分析儀
泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀,旨在為主流嵌入式系統設計者提供強大的高端調試與分析能力。TLA6000系列以更低的價(jià)位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能,相對便攜式TLA5000系列型號提供了更多的能力。

更高的信號傳輸速率和板卡密度通常會(huì )導致信號完整性問(wèn)題,例如串擾、地面反跳和鳴震,它們通常表現為數字系統的功能故障。TLA6000系列為工程師提供了一套完整的工具,可幫他們快速發(fā)現、隔離和解決這些難以隔離的問(wèn)題。



強大性能滿(mǎn)足苛刻要求的應用

TLA6000系列旨在滿(mǎn)足嵌入式系統工程師對于更高性能的需求,該系列包括68、102和136數字通道配置,所有通道上都帶有125 ps高速定時(shí)分析能力,可實(shí)現高達450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲深度。這一性能水平代表了重大的性?xún)r(jià)比突破。

TLA6000系列通過(guò)多項先進(jìn)的特性提高了工程設計效率,例如,iCaptureTM技術(shù)通過(guò)一只邏輯分析儀探頭同時(shí)提供數字采集和模擬采集,從而無(wú)須進(jìn)行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲允許用戶(hù)觸發(fā)并顯示觀(guān)測到的信號完整性錯誤,而iViewTM顯示可在同一個(gè)顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數據的時(shí)間相關(guān)的有用視圖。簡(jiǎn)單且直觀(guān)的儀器設置可幫助在繁忙的實(shí)驗室環(huán)境中加快設計過(guò)程,從而節約時(shí)間。

TLA6000系列適用于多種調試和分析應用領(lǐng)域,包括信號完整性分析、FPGA調試和驗證、MIPI協(xié)議分析、存儲系統驗證以及嵌入式軟件集成與調試。
  
TLA6000系列現已在全球上市。
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