NI近日推出了NI PXIe-5630 6 GHz雙端口矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀（VNA），這是自動(dòng)化測試行業(yè)首臺基于PXI總線(xiàn)的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀。借助全新的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，可對前向參數和反向參數(T/R)進(jìn)行全面的矢量分析。此外，該矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀還提供精密自動(dòng)校準功能，并且基于靈活的軟件定義架構，非常適用于自動(dòng)化設計驗證和生產(chǎn)測試。該矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀基于PXI模塊化架構，只需占據兩個(gè)PXI槽位，使測試工程師可以在有限空間中將矢量網(wǎng)絡(luò )分析整合進(jìn)測試系統，而無(wú)需增加額外成本或使用體積較大的傳統臺式儀器。
NI PXIe-5630針對自動(dòng)化測試應用進(jìn)行了設計優(yōu)化，并提供一些成熟的功能，包括：自動(dòng)精密校準、雙端口均可進(jìn)行完整矢量分析、參考面延展附件、以及可用于并行測試的靈活的LabVIEW API。NI PXIe-5630還具有優(yōu)良的性能指標，包括10 MHz到6 GHz的頻率范圍、超過(guò)110 dB的動(dòng)態(tài)范圍、以及低于400 微秒/頻點(diǎn)的掃描速度（可連續掃描3201個(gè)頻點(diǎn)）。此外，由于基于模塊化的PXI平臺，工程師可將多達八個(gè)NI PXIe-5630模塊整合在一個(gè)PXI機箱中，并以真實(shí)并行的方式進(jìn)行多點(diǎn)射頻測試。 工程師無(wú)需編程便可用附帶的全功能軟面板交互式地控制NI PXIe-5630，或在NI LabVIEW軟件和NI LabWindows™/CVI ANSI C開(kāi)發(fā)環(huán)境中使用直觀(guān)的API通過(guò)編程進(jìn)行控制。兩種API都針對多核處理進(jìn)行了優(yōu)化，以完成多個(gè)RF組件的并行測試。相比通過(guò)開(kāi)關(guān)切換進(jìn)行串行測試，這種并行測試方式具有明顯的測試吞吐量?jì)?yōu)勢。 NI PXIe-5630還進(jìn)一步擴展了用于自動(dòng)化測試的PXI模塊化儀器系列產(chǎn)品�；诠I(yè)標準的PXI規范，該款矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀可與包括NI在內的70多家供應商的1500多種PXI儀器集成，滿(mǎn)足幾乎任何測試應用需求。 全新矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀將于2010年10月上市。了解關(guān)于NI PXIe-5630的更多信息，請訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/vna/zhs。 點(diǎn)擊此處，觀(guān)看《網(wǎng)絡(luò )分析儀理論與操作簡(jiǎn)介》視頻演示。 |
