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JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動(dòng)組)是一種國際標準測試協(xié)議(IEEE 1149．1兼容)。標準的JTAG接口是4線(xiàn)——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時(shí)鐘、數據輸入和數據輸出線(xiàn)。 JTAG的主要功能有兩種，或者說(shuō)JTAG主要有兩大 類(lèi)：一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題；另一類(lèi)用于Debug，對各類(lèi)芯片以及其外圍設備進(jìn)行調試。一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過(guò)JTAG接口訪(fǎng)問(wèn)CPU的內部寄存器、掛在CPU總線(xiàn)上的設備以及內置模塊的寄存器。本文主要介紹的是Debug功能。 1 JTAG原理分析 簡(jiǎn)單地說(shuō)，JTAG的工作原理可以歸結為：在器件內部定義一個(gè)TAP(Test Access Port，測試訪(fǎng)問(wèn)口)，通過(guò)專(zhuān)用的JTAG測試工具對內部節點(diǎn)進(jìn)行測試和調試。首先介紹一下邊界掃描和TAP的基本概念和內容。 1．1 邊界掃描 邊界掃描(Boundary-Scan)技術(shù)的基本思想是在靠近芯片的輸入／輸出引腳上增加一個(gè)移位寄存器單元，也就是邊界掃描寄存器(Boundary-Scan Register)。 當芯片處于調試狀態(tài)時(shí)，邊界掃描寄存器可以將芯片和外圍的輸入／輸出隔離開(kāi)來(lái)。通過(guò)邊界掃描寄存器單元，可以實(shí)現對芯片輸入／輸出信號的觀(guān)察和控制。對于芯片的輸入引腳，可以通過(guò)與之相連的邊界掃描寄存器單元把信號(數據)加載到該引腳中去；對于芯片的輸出引腳，也可以通過(guò)與之相連的邊界掃描寄存器“捕獲”該引腳上的輸出信號。在正常的運行狀態(tài)下，邊界掃描寄存器對芯片來(lái)說(shuō)是透明的，所以正常的運行不會(huì )受到任何影響。這樣，邊界掃描寄存器提供了一種便捷的方式用于觀(guān)測和控制所需調試的芯片。另外，芯片輸入／輸出引腳上的邊界掃描(移位)寄存器單元可以相互連接起來(lái)，在芯片的周?chē)纬梢粋�(gè)邊界掃描鏈(Boundary-Scan Chain)。邊界掃描鏈可以串行地輸入和輸出，通過(guò)相應的時(shí)鐘信號和控制信號，就可以方便地觀(guān)察和控制處在調試狀態(tài)下的芯片。 1．2 測試訪(fǎng)問(wèn)口TAP TAP(Test Access Port)是一個(gè)通用的端口，通過(guò)TAP可以訪(fǎng)問(wèn)芯片提供的所有數據寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。對整個(gè)TAP的控制是通過(guò)TAP控制器(TAP Controller)來(lái)完成的。下面先分別介紹一下TAP的幾個(gè)接口信號及其作用。其中，前4個(gè)信號在IEEE1149．1標準里是強制要求的。
簡(jiǎn)單地說(shuō)，PC機對目標板的調試就是通過(guò)TAP接口完成對相關(guān)數據寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的訪(fǎng)問(wèn)。 系統上電后，TAP Controller首先進(jìn)入Test-LogicReset狀態(tài)，然后依次進(jìn)入Run-Test／Idle、Selcct-DR-Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR狀態(tài)，最后回到Run-Tcst／Idle狀態(tài)。在此過(guò)程中，狀態(tài)的轉移都是通過(guò)TCK信號進(jìn)行驅動(dòng)(上升沿)，通過(guò)TMS信號對TAP的狀態(tài)進(jìn)行選擇轉換的。其中，在Capture-IR狀態(tài)下，一個(gè)特定的邏輯序列被加載到指令寄存器中；在Shift-IR狀態(tài)下，可以將一條特定的指令送到指令寄存器中；在Update—IR狀態(tài)下，剛才輸入到指令寄存器中的指令將用來(lái)更新指令寄存器。最后，系統又回到Run—Test／Idle狀態(tài)，指令生效，完成對指令寄存器的訪(fǎng)問(wèn)。當系統又返回到Run—Test／Idle狀態(tài)后，根據前面指令寄存器的內容選定所需要的數據寄存器，開(kāi)始執行對數據寄存器的工作。其基本原理與指令其存器的訪(fǎng)問(wèn)完全相同，依次為seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR，最后回到Run-Tcst／Idle狀態(tài)。通過(guò)TDl和TDO，就可以將新的數據加載到數據寄存器中。經(jīng)過(guò)一個(gè)周期后，就可以捕獲數據寄存器中的數據，完成對與數據寄存器的每個(gè)寄存器單元相連的芯片引腳的數據更新，也完成了對數據寄存器的訪(fǎng)問(wèn)。 目前，市場(chǎng)上的JTAG接口有14引腳和20引腳兩種。其中，以20引腳為主流標準，但也有少數的目標板采用14引腳。經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單的信號轉換后，可以將它們通用。 下面通過(guò)對JD44BOX實(shí)驗開(kāi)發(fā)板的簡(jiǎn)易JTAG的基本原理進(jìn)行分析，以及對JD44BOX和STR710試驗開(kāi)發(fā)板主板的JTAG原理進(jìn)行對比，進(jìn)一步闡述JTAG的工作原理。JD44BOX實(shí)驗開(kāi)發(fā)板的簡(jiǎn)易JTAG的原理圖如圖1所示。 圖1中，74LS244為三態(tài)輸出的8組緩沖器和總線(xiàn)驅動(dòng)器，其功能如表l所列。 由表1可知，在JD4480X實(shí)驗板的調試過(guò)程中，這款簡(jiǎn)易JTAG的主要作用就是將PC機發(fā)出的電信號與實(shí)驗板的電信號進(jìn)行匹配，以實(shí)現驅動(dòng)目標板的功能。 STR710和JD44BOX主板的JTAG原理圖如圖2和圖3所示。 通過(guò)圖2和圖3的對比可以發(fā)現，雖然所用的仿真器有很大的差別，但是，實(shí)際上忽略一些上下拉電阻以及保護電容(這些電阻、電容對于電路功能沒(méi)有意義)，它們的基本原理圖是十分相似的，唯一的差別就在于對RTCK信號(用于測試時(shí)鐘返回)和DBGRQ信號(用于設置目標板工作狀態(tài))的處理。實(shí)際上，在IEEE1149．1標準中這兩個(gè)信號都不是強制要求的。因此，在分析仿真器(JTAG)的工作原理時(shí)完全可以忽略這兩個(gè)信號的情況，而僅對IFEE 1149．1標準中強制要求的4個(gè)信號進(jìn)行分析。 2 仿真器與簡(jiǎn)易JTAG的性能對比 2．1 仿真器硬件連接
硬件連接如圖4所示。通過(guò)主機的并口與仿真器相連接，再將仿真器與目標板的JTAG調試接口連接。 2．2 性能對比 如表2所列，雖然通過(guò)不同的調試代理所需的下載時(shí)間有所不同，但是兩種仿真器所存在的性能差異仍然很明顯。在選用簡(jiǎn)易JTAG下載文件的過(guò)程中，效率最高的調試代理所需的時(shí)間仍將近是仿真器的6倍，這就是仿真器的優(yōu)勢所在。性能的提高必然要付出更多的代價(jià)，對開(kāi)發(fā)者來(lái)說(shuō)這個(gè)代價(jià)就是成本。經(jīng)過(guò)市場(chǎng)的考察，仿真器的價(jià)格一般在千兀左右，而簡(jiǎn)易JTAG的價(jià)格一般在百元左右，也就是存在將近10倍的差別。另外，還需要考慮的就是其兼容性。兼容性包括與H標板的兼容和與調試代理的兼容。在與目標板的兼容方面，后面的內容中會(huì )有詳細說(shuō)明；在與調試代理的兼容方面也有所反映。簡(jiǎn)易JTAG能夠與多個(gè)調試代理兼容，而仿真器只能使用其自帶的調試代理，具有一定的局限性。 2.3 原因分析 既然所有JTAG的基本原理都是一樣的，為什么這兩種仿真器的速度會(huì )存在如此大的差異，而且并不是所有的仿真器都是通用的呢? 首先介紹一下ARM7掃描鏈架構，如圖5所示。 與簡(jiǎn)易JTAG比較，在掃描過(guò)程中，STR710的仿真器為ARM7TDMI添加了一個(gè)專(zhuān)門(mén)的指針通道以及相應的存儲空間store-multiple(STM)。因此在調試狀態(tài)下，仿真器不再利用系統除了邊界扣描寄存器外的任何其他資源，而是通過(guò)JTAG-style接口直接獲取系統的狀態(tài)信息，對系統狀態(tài)進(jìn)行觀(guān)測以及調試，進(jìn)而大大提高調試速度。 在STR7lO目標板中，ARM7TDMI可以通過(guò)外部信號和內部電路模塊(ICE)進(jìn)入調試狀態(tài)。當目標板一旦進(jìn)入調試狀態(tài)后，內核就將其與存儲器分離開(kāi)來(lái)，這樣內核就可以保證在不影響系統正常運作的狀態(tài)下對系統的狀況進(jìn)行監測和調試。同時(shí)，ARM7TDMI內部狀態(tài)的檢測是通過(guò)JTAG-style接口進(jìn)行的，這個(gè)接口允許指令不通過(guò)數據線(xiàn)直接進(jìn)入到內核的掃描通道。這樣在調試狀態(tài)下，STM就可以直接嵌入到指令通道并存儲ARM7TDMI寄存器的內容，在不影響系統工作的情況下將這些內容移位出來(lái)，使仿真器獲得目標板的狀態(tài)信息。 與仿真器比較，簡(jiǎn)易JTAG完成的工作就要少得多。它只是完成了對主機信號的電平轉換，也就是相當于一個(gè)驅動(dòng)器。上面提到的所有工作都要交給CPU去做，因此在使用簡(jiǎn)易JTAG下載文件時(shí)目標板自然會(huì )相應地降低速度。尤其是當程序相對較大時(shí)，其速度就會(huì )大大降低，對于一些開(kāi)發(fā)人員來(lái)講，這是相當致命的缺點(diǎn)。 關(guān)于仿真器與目標板的兼容問(wèn)題，現在市場(chǎng)上的部分仿真器出現不同程度的不兼容問(wèn)題，其產(chǎn)生的主要原因是對RTCK信號(DBGRQ信號極不常見(jiàn)，這里不作介紹)的處理情況存在一些差異(不包括周立功系列的實(shí)驗開(kāi)發(fā)板，它們的仿真器使用的足單片機，與大多數的仿真器都不能兼容)。例如，在STR710中是將STCK信號與TCK信號直接相連了，而在nano2410A實(shí)驗開(kāi)發(fā)板中是將STCK信號直接接地，因此造成了ARM JTAG Emulator在nano2410A實(shí)驗開(kāi)發(fā)板中的不兼容。在對nano2410A主板的JTAG進(jìn)行了小小的改動(dòng)后就完成了仿真器兼容性的擴展。 備注：①JD4480X為北京交通大學(xué)自控室實(shí)驗開(kāi)發(fā)板，STR710為北京微芯力科技有限公司實(shí)驗開(kāi)發(fā)板；②實(shí)驗數據為秒表所測。 |
