|
2009年最佳測試產(chǎn)品獎項，面向電子測試與測量行業(yè)的重要的創(chuàng )新性產(chǎn)品和服務(wù)。2009年“Best in Test”獎項共設有15個(gè)應用及產(chǎn)品類(lèi)別，該獎項是由Test & Measurement World的讀者投票產(chǎn)生，其中，年度測試產(chǎn)品——美國國家儀器的Wi-Fi數據采集設備獲得最高讀者投票數。 年度測試產(chǎn)品 Wi-Fi 數據采集設備 National Instruments www.ni.com NI無(wú)線(xiàn)數據采集(Wi-Fi DAQ)設備具有內置的信號調理功能和商用安全性最高的網(wǎng)絡(luò )，能夠實(shí)時(shí)進(jìn)行數據采集，完成性能卓越且簡(jiǎn)便易用的遠程無(wú)線(xiàn)傳感器測量。NI無(wú)線(xiàn)數據采集(DAQ)設備通過(guò)結合IEEE 802.11無(wú)線(xiàn)或以太網(wǎng)通信、直接的傳感器連接以及靈活的NI LabVIEW軟件，實(shí)現著(zhù)對電氣、物理、機械和聲音信號的遠程監控。 NI無(wú)線(xiàn)數據采集(DAQ)設備每通道的數據讀寫(xiě)速率超過(guò)50 kS/s，并具有高達24位的分辨率。此外，經(jīng)NIST核準的內置式128位AES加密和高級網(wǎng)絡(luò )認證方法，確保著(zhù)最高的商用網(wǎng)絡(luò )安全性。 借助靈活的NI LabVIEW圖形化編程和普遍使用的802.11網(wǎng)絡(luò )設施，無(wú)線(xiàn)數據采集(Wi-Fi DAQ)可輕松地將無(wú)線(xiàn)連接，納入基于PC的新型測控系統或現有測控系統。工程師可以利用無(wú)線(xiàn)數據采集C系列測量模塊，交替使用在數個(gè)平臺（包括：NI CompactDAQ和CompactRIO、NI單模塊USB外盒）上，實(shí)現各種測量和控制應用。 NI無(wú)線(xiàn)數據采集(DAQ)設備包括五款無(wú)線(xiàn)設備模塊以及眾多附件，價(jià)格為699美元起。 最佳測試時(shí)間獎 ATPG軟件 Mentor Graphics www.mentor.com TestKompress ATPG（自動(dòng)測試格式生成）軟件包括嵌入式測試壓縮，以提供高質(zhì)量低成本掃描測試。隨著(zhù)測試需求的增長(cháng)，在高產(chǎn)量環(huán)境下保持高質(zhì)量IC測試需要進(jìn)行壓縮。很顯然，在針對更高階IC技術(shù)時(shí)，使用測試向量是必要的需求。 通過(guò)TestKompress，測試接入I/O口可以減少三個(gè)管腳，簡(jiǎn)化了測試，增加了器件的封裝選擇性，使標準設計更加流暢。嵌入式確定性測試（EDT）技術(shù)可適用于從微處理器至汽車(chē)電子的廣泛設計類(lèi)型，給出一致的測試結果，不會(huì )出現損失基本覆蓋率。 TestKompress在2001年時(shí)被作為額外的格式壓縮功能引入FastScan ATPG工具。最初的壓縮等級為10倍，目前已發(fā)展至超過(guò)100倍。另外的功能包括，分布式處理以獲得更快的執行能力，無(wú)需特殊格式就可指導錯誤診斷。設計經(jīng)過(guò)多次壓縮后，晶圓測試、封裝測試和自建內測試的工作可以明顯得到優(yōu)化。非矢量測試中，可以加入邏輯自測試（LBIST）來(lái)進(jìn)行系統測試。 音頻/視頻及多媒體 多媒體測試系統 VI Technology www.vi-tech.com 測試、設計和制造部門(mén)可以應用多媒體測試系統（MMTS）來(lái)測試多媒體設備的模擬和數字音/視頻性能。MMTS系統提供硬件和軟件測試所需的所有通用音頻、視頻信號及數字協(xié)議，通過(guò)資源共享以及雙核處理器的應用可以?xún)?yōu)化測試時(shí)間。 電路板及系統測試和配置 覆蓋擴展（Cover-Extend）技術(shù) Agilent Technologies Cover-Extend覆蓋擴展技術(shù)是專(zhuān)為面對越來(lái)越復雜的印制電路板組件（PCBA）的制造商提供的測試覆蓋工具，是電子制造行業(yè)兩種已建立測試方法學(xué)：邊界掃描和VTEP無(wú)矢量測試的混合。與要求在印制電路板組件(PCBA)上通過(guò)物理測試點(diǎn)注入測試激勵信號的傳統VTEP測試不同，Cover-Extend覆蓋擴展不需要物理測試點(diǎn)，而是依靠邊界掃描單元所提供的激勵源。為在線(xiàn)測試(ICT)用戶(hù)提供了不需要物理測試點(diǎn)的受限接入測試解決方案。 邊界掃描 T 37x7 RMI儀器 JTAG Technologies www.jtag.com JT 37x7 RMI (機架安裝式) 儀器是完整的邊界掃描控制器，采用標準的19英寸x1U外包裝，兼容任何機架安裝式功能測試系統。RMI支持所有的邊界掃描測試應用，包括IEEE 1149.6高級數字網(wǎng)絡(luò )測試以及閃存和可編輯邏輯器件的在系統編程(ISP)。RMI有4個(gè)完全兼容的邊界掃描測試接入端口(TAP)，可以向目標設備提供優(yōu)秀的信號完整性能。另外，RMI還提供256個(gè)可編程I/O，進(jìn)一步增強了測試覆蓋率。 EDA/DFx/測試數據分析軟件 Global Test Operations 解決方案 OptimalTest www.optimaltest.com Global Test Operations 解決方案是專(zhuān)為fabless公司和IDM公司提供的測試管理軟件，提供了一個(gè)全球測試運行和過(guò)程集成視圖。為半導體測試提供了企業(yè)級、統一的IT支持。允許使用者模擬、控制和管理從晶圓到最終測試的越來(lái)越多的分布式制造功能。 通用儀器（非示波器） Fluke 287 真有效值電子記錄多用表 Fluke www.fluke.com 具有趨勢捕獲功能的 Fluke 287 真有效值電子記錄多用表能夠快速記錄設計性能，并以圖形方式顯示發(fā)生的情況。 憑借其獨特的記錄和圖形功能，用戶(hù)不必再將記錄的讀數下載至 PC 來(lái)分析趨勢。 Fluke 287 為手持式多用表融入了前所未有的精度和易用性，大大提升了用戶(hù)解決問(wèn)題的能力。 它是要求高精度的苛刻應用領(lǐng)域的終極手持式測量工具。 機器視覺(jué)與檢測 OptiCon TurboLine AOI系統 GOEPEL electronic www.goepel.com 用于大批量印制電路板生產(chǎn)高端檢測的自動(dòng)光學(xué)檢測系統——OptiCon TurboLine，通過(guò)多個(gè)攝像裝置以及Goepel的擴展色技術(shù)（Extended Colour）取得高故障檢測。所有的組件和功能可以自定義配置來(lái)迎合特殊的檢測需求，并具有可升級能力。 網(wǎng)絡(luò )物理層測試 C-OTDR (MW90010A) 光時(shí)域反射儀 Anritsu Company www.us.anritsu.com MW90010A是目前全世界唯一的可以用來(lái)測試海底光纜的相干光時(shí)域反射儀，其可以測試超長(cháng)距離的海底光纜，測試距離可以達到12,000Km，是理想的海底光纜測試與維護工具。MW90010A采用相干檢測技術(shù)，利用光纖下行鏈路作為測試接口，測試背向反射光，可以穿透所有的光中繼器，顯示事件的損耗、距離等。 示波器 WavePro 7 Zi Series LeCroy Corporation www.lecroy.com WavePro 7 Zi系列把杰出的信號保真度與從每個(gè)性能方面都使速度達到最大的架構結合在一起，從1.5 GHz直到6 GHz帶寬，提供了全新的示波器體驗。每條通道提供50Ω和1MΩ輸入及高速前端放大器和模數轉換器的四個(gè)輸入。全新的X-Stream II結構提供了長(cháng)存儲器性能。再加上力科靈活深入的分析工具箱，WavePro 7 Zi系列為電子信號設計、調試、驗證、分析和一致性測試提供了極佳的體驗。 協(xié)議分析儀 TestCenter 3000 模塊組 Spirent Communications www.spirentcom.com 今天多功能、高密度企業(yè)級路由器和開(kāi)關(guān)，帶有先進(jìn)的安全特性及業(yè)務(wù)識別等功能。測試數據、視頻和語(yǔ)音的上層協(xié)議變得越來(lái)越重要，以提高產(chǎn)品的質(zhì)量。TestCenter 3000系列模塊通過(guò)1G端口提供了Layer 2-7測試。提供了1G端口的最高端口密度和性能，確保真實(shí)網(wǎng)絡(luò )中的真實(shí)競爭與驗證。 RF/微波設備：應用及標準 DigRF V4 Exerciser/Analyzer Agilent Technologies www.agilent.com WiMAX 和 LTE 技術(shù)設備中，集成GHz級串行互聯(lián)的RFIC為L(cháng)TE接口的無(wú)線(xiàn)物理層測試增大了數字和協(xié)議的測試挑戰。Agilent的RDX（無(wú)線(xiàn)電數字交叉域）平臺首次提供了端到端的數字射頻（DigRF）V4 測試解決方案。它為射頻集成電路（RFIC）和基帶 IC（BB-IC）的設計人員以及無(wú)線(xiàn)手機集成商提供全面的激勵和分析能力。 RF/微波通用測試設備 6.6 GHz PXIe RF 模塊化儀器 National Instruments www.ni.com 配有高瞬時(shí)帶寬的NI PXIe-5663 6.6 GHz RF模塊化儀器，專(zhuān)為自動(dòng)化測試而優(yōu)化。結合高性能PXI控制器和高速PCI Express數據總線(xiàn)，該矢量信號發(fā)生器最高測試速度可達傳統儀器的10倍。PXIe-5663與PXIe-5673 6.6 GHz RF 矢量信號發(fā)生器均為軟件定義的模塊化儀器，可兼容PXIe-1075 的18 槽高頻寬機箱。 半導體測試 EDGE閃爍噪聲測量系統 Cascade Microtech www.cascademicrotech.com 隨著(zhù)各新型半導體制程節點(diǎn)開(kāi)發(fā)成本的急劇上升以及產(chǎn)品上市時(shí)間壓力的增加，今天的測量關(guān)鍵參數諸如閃爍噪聲，已不再允許錯誤產(chǎn)生，制造商應體認到這些市場(chǎng)現實(shí)情況及其對于半導體制造的影響。EDGE閃爍噪聲測量系統，提供擷取閃爍噪聲數據的簡(jiǎn)便方法；最寬帶率范圍高達30MHz，最低的背景噪聲一般低于1.2nV/rtHz在100KHz和以上。如此寬的頻率范圍和低背景噪聲能使客戶(hù)能設備性能提升、得到較高的利潤并縮短產(chǎn)品上市的時(shí)間。 測試附件及連接設備 W2630A 系列DDR2 DDR3 BGA 探針 Agilent Technologies www.agilent.com Agilent公司其W2630A系列DDR2、DDR3 BGA探針是業(yè)內首款BGA（ball-grid array）探針，能夠直接偵測DRAM的錫球。搭配示波器和邏輯分析儀使用，可進(jìn)行物理層和功能測試，DDR BGA探針可以進(jìn)行完整的兼容性與通訊協(xié)議驗證測試。 測試擴展及測試管理軟件 VEE Pro 9.0 Agilent Technologies www.agilent.com Agilent VEE Pro 9.0 是一套使用簡(jiǎn)易的互動(dòng)式圖形化測試及測量軟件，為量測與分析提供了一條快速而簡(jiǎn)易的途徑。此軟件可建立靈活的直方圖，讓您的儀器得到更好的控制，以縮短測試開(kāi)發(fā)的時(shí)間，并提升工程設計及生產(chǎn)制造效率。VEE 9.0可視化、數據流編程軟件允許用戶(hù)選擇使用多線(xiàn)程的解決方案。與直觀(guān)的圖形拖放編程相配合，多線(xiàn)程更易于使用并更節省時(shí)間。 |
