|
MCU設計
硬件設計
目前,Samsung、FreeScale、Atmel、NXP、TI、ST等大公司已經(jīng)大規模推出各類(lèi)MCU,而且各具特色,因此設計具有自主知識產(chǎn)權的MCU應在系統架構等方面有別于這些大公司,一是避免侵權,二是更有利于市場(chǎng)競爭。同時(shí)應做好產(chǎn)品的規劃:從簡(jiǎn)單到復雜,從單一產(chǎn)品到系列產(chǎn)品,設計平臺不斷維護與更新,設計軟件不斷維護與升級,設計人員的水平不斷提高。主要包括以下幾個(gè)方面:
。1)體系架構分析、設計和驗證
依據設計規格書(shū)中的性能指標和功能指標,首先需要制定設計方案:選取幾款CPU以及所有用到的IP核進(jìn)行系統級設計,從整體上評估MCU的系統架構、CPU的性能指標、IP核的功能特性等方面;趲追N選定的目標工藝給出相應的數據分析,確認是否能夠滿(mǎn)足設計目標的要求,從而確定基本的設計方案,然后再根據具體的設計結果進(jìn)行相應的優(yōu)化。
。2)時(shí)鐘和復位方案設計
時(shí)鐘和復位對整個(gè)電路而言起到了至關(guān)重要的作用。如果這兩路信號有問(wèn)題,則電路不能正常工作。因此,需要作出詳盡的時(shí)鐘方案和復位方案,需要給不同的外設提供不同的時(shí)鐘:USB單獨時(shí)鐘、CPU等高速外設一個(gè)時(shí)鐘、UART等低速外設一個(gè)時(shí)鐘。
。3)總線(xiàn)方案設計
采用何種總線(xiàn)、何種組合方式、總線(xiàn)的數量等關(guān)系到MCU性能的發(fā)揮。以AMBA總線(xiàn)為例,通常的用法是AHB接高速外設,再通過(guò)AHB到APB總線(xiàn)橋來(lái)訪(fǎng)問(wèn)低速外設。有時(shí)為了提高外設的訪(fǎng)問(wèn)速度,一個(gè)MCU內部可能有兩條APB總線(xiàn);也可能有兩條AHB總線(xiàn)。指令和數據分離,一條用來(lái)數據傳輸或圖像處理,另一條用來(lái)通用控制。還可能有多層AHB的互連矩陣,便于多個(gè)Master可以同時(shí)訪(fǎng)問(wèn)多個(gè)不同的高速外設,從而大幅度提高M(jìn)CU系統性能。因此,總線(xiàn)方案的制定須依據產(chǎn)品的具體應用來(lái)確定。
。4)功耗管理方案設計
低功耗是MCU的突出特點(diǎn)之一,因為MCU中集成了多種低功耗管理策略:不僅在邏輯上采用門(mén)控時(shí)鐘、門(mén)級優(yōu)化的方式,而且還在物理上采用多閾值電壓、多電源域、門(mén)控電源等方式;同時(shí)更在功能模式上采用了多種模式:正常運行模式、睡眠模式、深度睡眠模式、掉電模式等,并嚴格規定各種模式下運行和關(guān)閉IP核的種類(lèi)以及各種模式之間的進(jìn)入和退出流程。這既保證了電路的功能,又保證了電路的性能。
。5)中斷處理方案設計
中斷是MCU一項很重要的功能。通過(guò)中斷控制,CPU可以快速響應外設的請求。中斷處理一般包括中斷源的數量、優(yōu)先級、是否可屏蔽、是一般中斷還是快速中斷等,通常需要設計一個(gè)專(zhuān)用模塊來(lái)進(jìn)行中斷處理。有時(shí)為了提高設計效率,IP銷(xiāo)售商也提供標準的基于A(yíng)HB或APB等總線(xiàn)接口協(xié)議的IP核。如果此類(lèi)IP核能夠滿(mǎn)足系統對于中斷處理情況的要求,也可以選用。
。6)存儲器管理方案設計
存儲器是MCU中占面積較大的模塊。一個(gè)MCU中可能同時(shí)含有ROM、SRAM和FLASH三種存儲器:ROM用于放置BootLoader、IP Drivers等,SRAM用于提高軟件運行速度、存放臨時(shí)數據,FLASH用于存放應用程序和數據。由于FLASH的讀寫(xiě)速度比較慢,為了提高FLASH的讀寫(xiě)速度,可以采用預取緩沖器和寫(xiě)緩沖器來(lái)加速指令和數據的緩沖。由于各個(gè)存儲器都有自己的地址空間,因此很方便用戶(hù)訪(fǎng)問(wèn)。為了便于系統管理,通常設計一個(gè)存儲器管理模塊,并在系統控制模塊中設計對應的控制寄存器。
。7)在線(xiàn)調試方案設計
目前,比較常用的在線(xiàn)調試方式為串行調試,如JTAG、EJTAG、UART等,使用PC機的并口、串口、網(wǎng)口或是USB接口,使得在線(xiàn)調試簡(jiǎn)單方便,成本低廉,如圖2所示。由于被調試的程序要在目標板上運行,而且MCU必須正常工作,因此需要設計一個(gè)專(zhuān)用的調試模塊以保證上位機軟件可以調用CPU來(lái)進(jìn)行軟硬件的在線(xiàn)調試,并且符合IEEE1149.1的協(xié)議標準,此模塊的基本結構如圖3所示。
。8)測試方案設計
MCU的測試方案主要包括物理測試、功能測試和性能測試幾部分內容。先要根據時(shí)鐘方案和復位方案對MCU進(jìn)行時(shí)鐘測試,確保時(shí)鐘電路工作正常;再對CPU進(jìn)行功能測試,因為CPU是MCU的控制核心,只有CPU正確運行才能對其他IP核進(jìn)行測試;然后再依據設計規格書(shū)對MCU外圍的數字IP核和模擬IP核進(jìn)行功能測試和性能測試。
5.2系統級驗證
為了確保設計的正確性,流片之前必須對MCU進(jìn)行全功能驗證。因此需要使用多種IIP和VIP來(lái)搭建一個(gè)系統級驗證平臺,依據設計規格書(shū)制定詳細的驗證方案,通過(guò)仿真工具,采用定向和隨機的方式或采用比較流行的OVM、VMM和UVM等驗證方法學(xué)、逐個(gè)IP核來(lái)驗證MCU的全部功能是正確的,重點(diǎn)是系統控制單元、總線(xiàn)仲裁器、功耗管理等為系統功能定制設計的非標準模塊。
5.3 FPGA原型驗證
由于系統級驗證使用的是EDA工具進(jìn)行軟件仿真,仿真的速度比較慢,因此可以通過(guò)FPGA原型驗證的方式來(lái)加速系統級驗證的速度,尤其是需要將那些功能比較復雜、規模比較大的模塊下載到FPGA中,而且應盡可能使用規模比較大的FPGA,如Virtex-7系列、ArriaV系列等。搭建FPGA驗證平臺時(shí),不僅可以使用一塊FPGA,也可以使用多塊FPGA,最好能夠將設計的所有模塊全部下載到FPGA中。FPGA原型驗證不僅要驗證硬件的正確性,還要驗證IP核驅動(dòng)程序的正確性,同時(shí)也可以驗證目標應用程序的正確性。
5.4物理設計
在對MCU系統級驗證和FPGA原型驗證后,需要進(jìn)行物理設計:依據設計規格書(shū)制定合理設計約束,從邏輯綜合到自動(dòng)布局布線(xiàn),再到物理驗證、形式驗證、靜態(tài)時(shí)序分析和功能驗證,完成從RTL到GDSII的轉換過(guò)程,最后將數據發(fā)送至代工廠(chǎng)進(jìn)行加工制造。
5.5文檔設計
文檔是MCU設計過(guò)程中很重要而且很必要的環(huán)節,且應該在設計的不同階段,以模板的形式規定在此階段所要完成的文檔設計,并由項目負責人進(jìn)行詳細審查,從而確保一旦設計中出現了任何問(wèn)題,都可以查找相關(guān)的設計文件以及對應的設計文檔,尤其是設計的細節需要體現的很完整。
以上只是簡(jiǎn)要概述了MCU硬件設計的主要方面。若要設計一個(gè)性?xún)r(jià)比高、競爭力強的MCU,還需要進(jìn)行大量的、詳細的工作,尤其是電路的全功能驗證和詳盡測試,并搭建一個(gè)MCU平臺來(lái)進(jìn)行系列產(chǎn)品的開(kāi)發(fā),以保證產(chǎn)品可以源源不斷地進(jìn)入嵌入式市場(chǎng)。 |
|