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如圖所示為反射光強度的檢測電路。該電路由紅外發(fā)光二極管、光電二極管、CMOS模擬開(kāi)關(guān)、運算放大器等組成。 電路正常工作時(shí)，首先使紅外發(fā)光二極管(LED)不發(fā)光，光電二極管接收到的外部干擾信號轉換為電信號后加至負方向積分電路，設此段時(shí)間為T(mén)1；然后使LED發(fā)光，光電二極管接收到的光信號轉換為電信號后加至正方向積分電路，設此段時(shí)間為T(mén)2。設T1=T2。則電路顯示出來(lái)所保持的信號與外部干擾無(wú)關(guān)，僅與反射光強度有關(guān)。保持信號的這段時(shí)間稱(chēng)為保持時(shí)間，記為T(mén)3。相應積分器復位對應的時(shí)間為T(mén)4。在工作頻率(50Hz或60Hz)下，為了有效地避免同步外部干擾，最好使T1=T2=N/f(N取整數，f為工作頻率)，或者取T1=T2＜＜1/f。該電路結構簡(jiǎn)單，使用輸出功率為5～10mW的紅外發(fā)光二極管和光電二極管，可在距離10～100mm處檢測反射光強度。電路中運算放大器的輸入偏置電流應遠小于光電流。電路增益取決于積分時(shí)間和積分電容Ci。本電路除了可以排除干擾檢測反射光強度(反射光率)外，還可用于檢測距離、傾斜和通過(guò)率，特別適用于檢測各種光強。此外，本電路還可用于霍爾元件的磁性測量及其他測量。 |
