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納米技術(shù)研究已深入到原子挨原子的分子級，構造具有全新特性的新結構。特別地，納米電子領(lǐng)域的發(fā)展十分迅速，其潛在影響涉及非常寬 的行業(yè)領(lǐng)域。目前的納米電子研究的內容主要是如何開(kāi)發(fā)利用碳納米管、半導體納米線(xiàn)、阿分子有機電子和單電子器件。 不過(guò)，由于多方面的原因，這些微小器件無(wú)法采用標準的測試技術(shù)進(jìn)行測試。其中一個(gè)主要原因在于這類(lèi)器件的物理尺寸。某些新型“超CMOS”器件的納米級尺寸很小，很容易受到測量過(guò)程使用的甚至很小電流的損壞。此外，傳統直流測試技術(shù)也不總是能夠揭示器件實(shí)際工作的情況。因此，設計者需要新的測試技術(shù)和測試工具。其中一種技術(shù)就是脈沖測試，它對于新一代納米電子器件的研究是必需的。 下載： 
納米器件的脈沖測試.pdf
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