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可見(jiàn)光發(fā)光二極管（LED）兼具高效率和長(cháng)壽命的特點(diǎn)。目前，它們的應用十分廣泛。制造商們通過(guò)對LED器件的深入研究已經(jīng)研制出了具有更高光通量、更長(cháng)壽命、更多色彩和更高每瓦流明數的新器件。精確而高性?xún)r(jià)比的測試對于確保器件的可靠性和質(zhì)量至關(guān)重要。 LED測試在生產(chǎn)的不同階段具有不同類(lèi)型的測試序列，例如設計研發(fā)階段的測試、生產(chǎn)過(guò)程中的晶圓級測試、以及封裝后的最終測試。盡管LED的測試一般包含電氣和光學(xué)測量，本文著(zhù)重探討電氣特征分析，只在適當的位置介紹部分光學(xué)測量技術(shù)。圖1給出了典型二極管的電氣I-V曲線(xiàn)。完整的測試應該包含大量的電壓值與對應的電流工作點(diǎn)，但是一般情況下有限的采樣點(diǎn)就足以測試出器件的品質(zhì)因數。 下載： 
生產(chǎn)環(huán)境下高亮度LED的高精度高性?xún)r(jià)比測試.pdf
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