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近日，全球領(lǐng)先的測試測量廠(chǎng)商NI（National Instruments）宣布與上海孤波科技有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)孤波）、上海韋爾半導體股份有限公司（簡(jiǎn)稱(chēng)韋爾半導體）達成合作。孤波借助NI開(kāi)放的LabVIEW平臺和模塊化的PXI硬件，開(kāi)發(fā)出滿(mǎn)足韋爾半導體射頻芯片產(chǎn)品的測試方案，幫助韋爾半導體建立從實(shí)驗室驗證到量產(chǎn)的標準化測試流程，加速產(chǎn)品上市時(shí)間。 2020年新基建的提出，加速了各領(lǐng)域的智能化升級，受應用端的驅動(dòng)，芯片行業(yè)迎來(lái)了新的發(fā)展期。在此背景下，NI、孤波和韋爾半導體三方的合作對于推動(dòng)半導體行業(yè)創(chuàng )新具有重要意義。韋爾半導體作為專(zhuān)注于半導體器件的設計和銷(xiāo)售公司，面臨著(zhù)將產(chǎn)品迭代速度快，上市時(shí)間縮短的挑戰。未來(lái)，三方將共同探索，攜手打造高效的芯片測試模式，致力于優(yōu)化測試流程、縮短測試時(shí)間、降低測試成本。 作為致力于開(kāi)發(fā)標準的半導體自動(dòng)化驗證、測試軟件平臺的創(chuàng )新者，孤波將與NI共同推進(jìn)測試測量標準化流程在各行各業(yè)行業(yè)的落地。上海孤波科技有限公司總經(jīng)理周浩表示：“孤波打造基于LabVIEW和C#的易用的軟件平臺SIVA，結合NI的PXI和客戶(hù)自有的第三方臺式儀表，為客戶(hù)打造跨產(chǎn)品線(xiàn)，跨office，甚至跨BU的測試統一服務(wù)，統一測試標準，從而提高測試效率，加速客戶(hù)的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和量產(chǎn)進(jìn)程�！� 上海韋爾半導體股份有限公司副總裁紀剛指出：“在NI的開(kāi)放的PXI架構和孤波易用的SIVA軟件的幫助下，韋爾半導體實(shí)現了多條產(chǎn)品線(xiàn)從實(shí)驗室驗證到量產(chǎn)的測試標準化和平臺復用，極大地降低了測試成本，提升了測試效率，從而幫助我們加快產(chǎn)品的迭代速度，更好地應對快速的市場(chǎng)變化�！� 芯片越來(lái)越復雜，而芯片從研發(fā)到量產(chǎn)的周期卻越來(lái)越短，如何實(shí)現從實(shí)驗室到量產(chǎn)整個(gè)環(huán)節的全面與快速驗證，是工程師們面臨的一個(gè)重大挑戰。傳統的測試方法無(wú)法應對現在的挑戰，為滿(mǎn)足日益復雜的測試需求，有效控制成本和測試時(shí)間，工程師需要現代化芯片測試（Modern Lab)方法，即基于標準化、高效的芯片實(shí)驗室運營(yíng)流程方法。 NI 亞太區銷(xiāo)售總監陳健忠強調：“Modern Lab的概念由NI首次提出，NI致力于將Modern Lab的理念帶入中國，幫助中國客戶(hù)建立這套標準化的測試流程，在芯片測試過(guò)程中建立標準和可遷移的架構，幫助廠(chǎng)商實(shí)現在不同地區標準測試臺的部署和協(xié)同運營(yíng)，同時(shí)為未來(lái)新技術(shù)的研發(fā)提供充分的靈活性�！� 
測試貫穿于芯片產(chǎn)業(yè)鏈的每個(gè)環(huán)節，隨著(zhù)芯片產(chǎn)品多樣性和復雜性的增長(cháng)，基于現代化的測試方法打造測試系統非常必要。NI和孤波將發(fā)揮各自獨特的優(yōu)勢，幫助韋爾半導體占領(lǐng)市場(chǎng)先機。 |
