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大多數電子系統都含有模擬電路、微處理器、DSPs、ASICs 和 / 或 FPGAs，要求多個(gè)供電電壓。為保證這些系統運行，必需相應地控制瞬態(tài)特點(diǎn)，如開(kāi)機和關(guān)機定時(shí)、傾斜速率及不同供電電壓的幅度。確定電壓和電流大小、監視、排序和跟蹤功能對表征電源的瞬態(tài)性能至關(guān)重要。 開(kāi)機和關(guān)機瞬態(tài)事件被確定為輸入電壓步進(jìn)函數，其源自繼電器或開(kāi)關(guān)閉合。從各種電源中實(shí)現干凈的或單調的上升或下降可能是一個(gè)主要問(wèn)題�？赡軙�(huì )由于大的涌入電流或有限的電源阻抗而導致輸入電壓下跌，這可能會(huì )給欠壓鎖定電路、涌入限流電路、甚至通用電源帶來(lái)災難性問(wèn)題。用戶(hù)還可能遇到傾斜速率慢，導致異常的、有時(shí)候是破壞性的后果。 DMM7510捕獲開(kāi)機和關(guān)機瞬態(tài)事件： 傳統DMMs通常不能測量電源的開(kāi)機和關(guān)機瞬態(tài)事件，但是吉時(shí)利新款DMM7510做到了。以測試開(kāi)關(guān)式電源為例，采用DMM7510用戶(hù)界面上的內置模擬邊沿觸發(fā)機制，設置采樣率、觸發(fā)頻寬、觸發(fā)斜率、觸發(fā)電平及觸發(fā)位置，就能非常便捷地捕獲開(kāi)機瞬態(tài)事件，并在圖形顯示器上迅速查看波形。 圖中顯示了輸入電流極限下降可能導致的異常開(kāi)機特點(diǎn)。左面的波形顯示了由于初始輸入電容器要求的涌入電流不足而導致輸出電壓下跌。右面的波形一直沒(méi)有恢復，輸出振蕩低于預計的 5V 輸出值。 圖中顯示了多種現象，包括軟啟動(dòng)樓梯序列、正常輸出斜坡及開(kāi)機結束時(shí)略微過(guò)沖。 DMM7510測試能力： DMM7510 型圖形采樣萬(wàn)用表同時(shí)融合動(dòng)態(tài)測量范圍、18 位分辨率和龐大的讀數緩沖器，最大限度地提高模數轉換器的效果。在一次觸發(fā)采集中，能以毫伏精度捕獲整個(gè)開(kāi)機，可以揭示設計中最細小的不規則特點(diǎn)。您可以簡(jiǎn)便地放大和卷動(dòng)到波形上的任意區域，考察各個(gè)發(fā)生時(shí)點(diǎn)的詳細信息。還可以使用水平光標和垂直光標做進(jìn)一步分析。 如需了解吉時(shí)利萬(wàn)用表DMM7510更多產(chǎn)品應用歡迎訪(fǎng)問(wèn)安泰測試網(wǎng)。 |
