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大功率2651A型數字源表進(jìn)一步豐富了2600A系列產(chǎn)品。該源表專(zhuān)門(mén)針對大功率電子器件的特性分析和測試而優(yōu)化設計，可幫助用戶(hù)在研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)領(lǐng)域提高生產(chǎn)力，包括高亮度LED、功率半導體、DC/DC轉換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模塊和組件的特性分析和測試。 與2600A系列產(chǎn)品的每個(gè)成員一樣，2651A具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負載，組合了精密電壓和電流表。該源表可作為： 半導體特性分析儀器 電壓或電流波形發(fā)生器 電壓或電流脈沖發(fā)生器 精密電源 真電流源 數字多用表(直流電壓，直流電流，電阻和功率，分辨率達5½位) 精密電子負載
Part II 2651A的特性 兩種測量模式：數字化或積分 2651A型有兩種測量模式可對瞬態(tài)和穩態(tài)行為進(jìn)行精密地特性分析，包括快速變化的熱效應。每種模式均由其獨立的模/數(A/D)轉換器定義。 在數字化測量模式下，連續進(jìn)行1μs/點(diǎn)采樣，每秒可捕獲1,000,000個(gè)讀數。其18位A/D轉換器使用戶(hù)能夠精密測量瞬態(tài)特性。對于更準確的測量，可利用基于22位A/D轉換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。 每種測量模式下使用兩個(gè)A/D轉換器(一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓)，可同時(shí)運行用于準確源讀回，不會(huì )影響測試效率。 
雙數字化A/D轉換器以高達1μs/點(diǎn)速率進(jìn)行連續采樣，同時(shí)對電流和電壓波形進(jìn)行特性分析。 高速脈沖 2651A型能夠準確輸出和測量短至100μs的脈沖，將測試期間的自熱效應影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶(hù)能夠在100μs至DC范圍內編程脈寬，在1%至100%范圍內編程占空比。單臺儀器可輸出高達50A電流脈沖，兩臺組合可輸出高達100A電流脈沖。 擴展能力 利用TSP-Link®，可將多臺2651A和其他2600A系列儀器組合在一起，形成最多64路通道的更大集成系統。利用內置500ns觸發(fā)控制器，確保精密定時(shí)和嚴格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。
吉時(shí)利的TSP和TSP-Link技術(shù)確保實(shí)現真正的SMU-per-pin測試，不存在基于主機系統的功率和/或通道限制。 此外，兩臺2651A型采用TSP-Link并聯(lián)時(shí)，電流量程從50A擴展至100A。當兩個(gè)單元串聯(lián)時(shí)，電壓范圍從40V擴展至80V。內置智能特性使多個(gè)單元可作為單臺儀器進(jìn)行尋址，簡(jiǎn)化了測試，由此形成業(yè)內最佳的動(dòng)態(tài)范圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶(hù)可測試各種各樣的功率半導體和其他器件。
高達50A (2個(gè)單元可達100A)的精密測量確保更完善和準確的特性分析。
1μV測量分辨率和高達50A (2個(gè)單元可達100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量，支持新一代器件。 2600A系列儀器的標準能力 每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力，包括： 既可作為臺式I-V特性分析工具，又可作為多通道I-V測試系統的組成部分。 無(wú)需編程或安裝，TSP Express軟件即可快速、簡(jiǎn)便地執行常見(jiàn)的I-V測試。 ACS基本版軟件，用于半導體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟件現在具備一種Trace模式，用于產(chǎn)生一套特性曲線(xiàn)。 吉時(shí)利的TSP®(測試腳本處理器)軟件，能夠創(chuàng )建用戶(hù)自定義測試腳本，實(shí)現自動(dòng)化程度更高的測試，并且支持創(chuàng )建編程序列，使儀器在沒(méi)有PC直接控制的情況下異步工作。 多臺2600A系列儀器連接在一個(gè)系統中，實(shí)現并行測試和精密定時(shí)。 符合LXI class C標準。 14位I/O線(xiàn)，與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動(dòng)化工具直接交互。 USB端口，利用USB存儲裝置實(shí)現更大的數據和程序存儲空間。 Part III 2651A的應用領(lǐng)域 輕松支持當今具有挑戰性的應用： 功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試 GaN、SIC及其他復合材料和器件的特性分析 高速、高精度數字化 電遷移研究 大電流、大功率器件測試
1.每種測量模式下使用兩個(gè)A/D轉換器(一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓)，可同時(shí)運行用于準確源讀回，不會(huì )影響測試效率。 當用于一個(gè)系統時(shí)，全部2600A系列的通道以500ns同步，實(shí)現真正的SMU-per-pin測試，主機不存在功率或通道限制。 2.將熱效應降至最小，準確特性分析半導體結溫效應 準確源出和測量短至100μs的脈沖，并且脈沖從100μs至直流、上升時(shí)間從25μs、占空比從1%至100%可編程。 捕獲快速變化現象，速率達1,000,000讀數/秒，連續1μs/點(diǎn)采樣。 3.提高試驗可靠性和可重復性 精密定時(shí)和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關(guān)重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號，精確控制每一源測量步驟的定時(shí)。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作，采用TSP-Link，硬件速度<500ns。更重要的是，SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量，降低可能損壞DUT的影響，并獲得高準確度和可復現的測量結果。 4.快速、簡(jiǎn)便地執行I-V測試 無(wú)需編程或安裝，TSP® Express軟件工具即執行常見(jiàn)的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶(hù)能夠創(chuàng )建儀器可直接運行的腳本，進(jìn)一步提高測試自動(dòng)化。
該TSP Express測量屏幕所示為利用兩臺2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結果，然后導出至.csv格式文件，可用于電子表格軟件。
從基本測試到高級測試，利用TSP Express都能快速、簡(jiǎn)便的配置。 |
