吉時(shí)利推出新產(chǎn)品2651A

發(fā)布時(shí)間:2011-5-24 11:05    發(fā)布者:Liming
關(guān)鍵詞: 2651A , 吉時(shí)利
大功率2651A型數字源表進(jìn)一步豐富了2600A系列產(chǎn)品。該源表專(zhuān)門(mén)針對大功率電子器件的特性分析和測試而優(yōu)化設計,可幫助用戶(hù)在研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)領(lǐng)域提高生產(chǎn)力,包括高亮度LED、功率半導體、DC/DC轉換器、電池,以及其他大功率材料、元件、模塊和組件的特性分析和測試。
與2600A系列產(chǎn)品的每個(gè)成員一樣,2651A具有高靈活性、四象限電壓電流源/負載,組合了精密電壓和電流表。該源表可作為:
半導體特性分析儀器
電壓或電流波形發(fā)生器
電壓或電流脈沖發(fā)生器
精密電源
真電流源
數字多用表(直流電壓,直流電流,電阻和功率,分辨率達5½位)
精密電子負載

突破性特性
利益
n       兩種測量模式:
         數字化模式,18位A/D轉換器
         積分模式,22位A/D轉換器
捕獲瞬態(tài)行為,例如正在變化的熱效應,采樣率達1μs/點(diǎn)(1MHz)。
提供極其準確和可復現的測量結果
n      雙A/D轉換器用于每種測量模式
完全同時(shí)對電流和電壓波形進(jìn)行特性化和測量
n      全隔離的獨立通道,500ns同步
提供更簡(jiǎn)捷、更快速且更靈活的連接和接地機制,實(shí)現SMU-per-pin測試
n      業(yè)界最寬的動(dòng)態(tài)范圍,用于電流源出和測量:1pA至50A (兩臺儀器時(shí)達100A)
測試各種各樣的功率半導體和其他器件

Part II 2651A的特性
兩種測量模式:數字化或積分
2651A型有兩種測量模式可對瞬態(tài)和穩態(tài)行為進(jìn)行精密地特性分析,包括快速變化的熱效應。每種模式均由其獨立的模/數(A/D)轉換器定義。
在數字化測量模式下,連續進(jìn)行1μs/點(diǎn)采樣,每秒可捕獲1,000,000個(gè)讀數。其18位A/D轉換器使用戶(hù)能夠精密測量瞬態(tài)特性。對于更準確的測量,可利用基于22位A/D轉換器的積分測量模式。全部2600A系列儀器均具有積分測量模式。

每種測量模式下使用兩個(gè)A/D轉換器(一個(gè)用于電流,另一個(gè)用于電壓),可同時(shí)運行用于準確源讀回,不會(huì )影響測試效率。

雙數字化A/D轉換器以高達1μs/點(diǎn)速率進(jìn)行連續采樣,同時(shí)對電流和電壓波形進(jìn)行特性分析。
高速脈沖
2651A型能夠準確輸出和測量短至100μs的脈沖,將測試期間的自熱效應影響降至最低。更大的控制靈活性使用戶(hù)能夠在100μs至DC范圍內編程脈寬,在1%至100%范圍內編程占空比。單臺儀器可輸出高達50A電流脈沖,兩臺組合可輸出高達100A電流脈沖。
擴展能力
利用TSP-Link®,可將多臺2651A和其他2600A系列儀器組合在一起,形成最多64路通道的更大集成系統。利用內置500ns觸發(fā)控制器,確保精密定時(shí)和嚴格通道同步。源表儀器的完全隔離、獨立通道確保了真正的SMU-per-pin測試。

吉時(shí)利的TSP和TSP-Link技術(shù)確保實(shí)現真正的SMU-per-pin測試,不存在基于主機系統的功率和/或通道限制。
此外,兩臺2651A型采用TSP-Link并聯(lián)時(shí),電流量程從50A擴展至100A。當兩個(gè)單元串聯(lián)時(shí),電壓范圍從40V擴展至80V。內置智能特性使多個(gè)單元可作為單臺儀器進(jìn)行尋址,簡(jiǎn)化了測試,由此形成業(yè)內最佳的動(dòng)態(tài)范圍(100A至1pA)。這種能力確保用戶(hù)可測試各種各樣的功率半導體和其他器件。

高達50A (2個(gè)單元可達100A)的精密測量確保更完善和準確的特性分析。

1μV測量分辨率和高達50A (2個(gè)單元可達100A)的電流源輸出確保低電平Rds測量,支持新一代器件。
2600A系列儀器的標準能力
每款2651A均具備其他2600A系列儀器提供的全部特性和能力,包括:
既可作為臺式I-V特性分析工具,又可作為多通道I-V測試系統的組成部分。
無(wú)需編程或安裝,TSP Express軟件即可快速、簡(jiǎn)便地執行常見(jiàn)的I-V測試。
ACS基本版軟件,用于半導體元器件特性分析(選件)。ACS基本版軟件現在具備一種Trace模式,用于產(chǎn)生一套特性曲線(xiàn)。
吉時(shí)利的TSP®(測試腳本處理器)軟件,能夠創(chuàng )建用戶(hù)自定義測試腳本,實(shí)現自動(dòng)化程度更高的測試,并且支持創(chuàng )建編程序列,使儀器在沒(méi)有PC直接控制的情況下異步工作。
多臺2600A系列儀器連接在一個(gè)系統中,實(shí)現并行測試和精密定時(shí)。
符合LXI class C標準。
14位I/O線(xiàn),與探針臺、元件裝卸裝置或其他自動(dòng)化工具直接交互。
USB端口,利用USB存儲裝置實(shí)現更大的數據和程序存儲空間。

Part III 2651A的應用領(lǐng)域
輕松支持當今具有挑戰性的應用:
功率半導體、HBLED和光器件特性分析和測試
GaN、SIC及其他復合材料和器件的特性分析
高速、高精度數字化
電遷移研究
大電流、大功率器件測試


1.每種測量模式下使用兩個(gè)A/D轉換器(一個(gè)用于電流,另一個(gè)用于電壓),可同時(shí)運行用于準確源讀回,不會(huì )影響測試效率。
當用于一個(gè)系統時(shí),全部2600A系列的通道以500ns同步,實(shí)現真正的SMU-per-pin測試,主機不存在功率或通道限制。

2.將熱效應降至最小,準確特性分析半導體結溫效應
準確源出和測量短至100μs的脈沖,并且脈沖從100μs至直流、上升時(shí)間從25μs、占空比從1%至100%可編程。
捕獲快速變化現象,速率達1,000,000讀數/秒,連續1μs/點(diǎn)采樣。

3.提高試驗可靠性和可重復性
精密定時(shí)和嚴格的通道同步對當今的測試要求至關(guān)重要。2651A型具有一款高性能觸發(fā)型號,精確控制每一源測量步驟的定時(shí)。它還嚴格同步通道之間和/或其他2600A系列儀器之間的工作,采用TSP-Link,硬件速度<500ns。更重要的是,SMU-per-pin測試防止測量和負載信號失真。這些功能可幫助您提高吞吐量,降低可能損壞DUT的影響,并獲得高準確度和可復現的測量結果。

4.快速、簡(jiǎn)便地執行I-V測試
無(wú)需編程或安裝,TSP® Express軟件工具即執行常見(jiàn)的I-V測試。嵌入式測試腳本處理器(TSP®)使用戶(hù)能夠創(chuàng )建儀器可直接運行的腳本,進(jìn)一步提高測試自動(dòng)化。


該TSP Express測量屏幕所示為利用兩臺2651A單元并聯(lián)獲得100A脈沖能力。能夠以圖形或表格格式查看結果,然后導出至.csv格式文件,可用于電子表格軟件。

從基本測試到高級測試,利用TSP Express都能快速、簡(jiǎn)便的配置。
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