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如圖所示為使用電壓比較器LM324組成的測試電路。其特點(diǎn)是便于檢測閾值電平的調整，可測試DTL、TTL、CMOS等多種邏輯電平。由電壓比較器的原理可知：當同相輸入端(正端)電壓高于反相輸入端(負端)電壓時(shí)，比較器輸出高電平；反之，則輸出低電平。RP為比較電壓調整電位器，當UIN高于設置電壓時(shí)，7腳輸出高電平，顯示1，同時(shí)小數點(diǎn)dp發(fā)光；UIN低于設置電壓時(shí)，1腳輸出高電平顯示0，但小數點(diǎn)不亮；當檢測到高、低變化的時(shí)鐘脈沖時(shí)，若頻率很低，可見(jiàn)0、1交替顯示。頻率較高時(shí)，0、1變化非�？�，所以只見(jiàn)顯示為0，同時(shí)小數點(diǎn)dp發(fā)光，這種“帶點(diǎn)的零”即可表示檢測的是時(shí)鐘脈沖。 |
