LabVIEW工業(yè)測量和控制應用資料集

發(fā)布時(shí)間:2011-8-1 09:32    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: LabVIEW , NI , 測試測量 , 美國國家儀器
資源包包括LabVIEW在工業(yè)測控應用中的新特性及主要資源。NI LabVIEW結合基于配置的工具和強大的編程功能,適于開(kāi)發(fā)配有專(zhuān)業(yè)用戶(hù)界面的測量、分析和控制應用程序,幫助用戶(hù)輕松觸及FPGA技術(shù),用戶(hù)因而能夠自行定義控制電路,同時(shí)削減了傳統自定義硬件中的復雜性和成本。

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jis715 發(fā)表于 2018-1-9 10:57:19
謝謝俄ile
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