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該平臺展示使用安森美半導體硅光電倍增管 (SiPM) 傳感器專(zhuān)知的直接飛行時(shí)間激光雷達 安森美半導體 (ON Semiconductor)推出了由該公司硅光電倍增管 (SiPM) 技術(shù)實(shí)現的單點(diǎn)直接飛行時(shí)間 (dToF) 的激光雷達方案。 
光檢測和測距或激光雷達的應用在所有領(lǐng)域都在增長(cháng)，包括機器人和強制要求毫米范圍精度的工業(yè)接近感知。它通�；赿ToF方法，測量通常在近紅外 (NIR) 波長(cháng)范圍內的一個(gè)光脈沖往返于一個(gè)物體所需的時(shí)間。 盡管原理很簡(jiǎn)單，但其應用可能會(huì )帶來(lái)挑戰性，例如周?chē)?yáng)光較強等環(huán)境因素。為了準確確定范圍，接收器需要捕獲盡可能多的信號。就響應時(shí)間和靈敏度而言，傳統的光電二極管在這方面會(huì )受到影響。安森美半導體開(kāi)發(fā)的硅光電倍增管 (SiPM) 傳感器提供更快的響應時(shí)間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平臺使用安森美半導體第二代SiPM 傳感器RB系列，在紅色和NIR范圍都帶來(lái)更高的性能。 安森美半導體開(kāi)發(fā)的SiPM dToF激光雷達平臺提供低成本、單點(diǎn)激光雷達的完整方案，原始設備制造商 (OEM) 可靈活調整并投入生產(chǎn)，以創(chuàng )建工業(yè)測距應用。它包括NIR激光二極管、SiPM傳感器和光學(xué)器件，以及將檢測到的信號轉換為經(jīng)過(guò)時(shí)間，以及將經(jīng)過(guò)時(shí)間轉換為距離所需的數字處理。 為加快客戶(hù)的上市時(shí)間，安森美半導體提供該參考平臺的所有設計數據，涵蓋原理圖、物料單 (BoM) 、gerber文件和PCB設計文件�？蛻�(hù)還可以訪(fǎng)問(wèn)基于PC的圖形用戶(hù)接口(GUI)，提供隨時(shí)間變化的測量結果的圖形。生成的直方圖進(jìn)一步證明該系統在測距、碰撞檢測和3D制圖等應用的能力。 安森美半導體物聯(lián)網(wǎng)主管Wiren Perera說(shuō)：“使用dToF激光雷達進(jìn)行測距，滿(mǎn)足了許多應用的關(guān)鍵需求，從自主導航到地圖繪制到監控。但是，開(kāi)發(fā)基于dToF激光雷達的系統可能具有挑戰性。我司的這個(gè)平臺顯然證實(shí)這領(lǐng)先技術(shù)的效用。有了經(jīng)驗證的設計，客戶(hù)就能更快地進(jìn)行概念驗證，并迅速將產(chǎn)品推向市場(chǎng)�！� SiPM dToF激光雷達平臺可檢測10厘米至23米距離的物體。使用提供的GUI提供開(kāi)箱即用的體驗，使工程師可以立即開(kāi)始評估該技術(shù)。該設計已獲得美國食品和藥物管理局 (FDA) 一類(lèi)認證，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11激光安全標準。 更多資源及文檔： |
