開(kāi)關(guān)損耗測試方案中的探頭應用

PRBTEK

如今的開(kāi)關(guān)電源技術(shù)很大程度上依托于電源半導體開(kāi)關(guān)器件，如MOSFET和IGBT。這些器件提供了快速開(kāi)關(guān)速度，能夠耐受沒(méi)有規律的電壓峰值。同時(shí)在On或Off狀態(tài)下小號的功率非常小，實(shí)現了很高的轉化效率，熱損耗極低。

開(kāi)關(guān)設備極大程度上決定了SMPS的整體性能。開(kāi)關(guān)器件的損耗可以說(shuō)是開(kāi)關(guān)電源中最為重要的一個(gè)損耗點(diǎn)，課件開(kāi)關(guān)損耗測試是至關(guān)重要的。接下來(lái)普科科技PRBTEK就開(kāi)關(guān)損耗測試方案中的探頭應用進(jìn)行介紹。

上圖使用MSO5配合THDP0200及TCP0030A等探頭

以上方案中通過(guò)示波器專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)損耗算法，配合泰克探頭，完美補償探頭延遲，減少了開(kāi)關(guān)損耗運算過(guò)程中產(chǎn)生的誤差。測試結果極為可靠。

TCP0030A及THDP0200參數

探頭外觀(guān)圖

TCP0030A

THDP0200

附：常見(jiàn)參數介紹

1、帶寬，代表了探頭可測到的最大信號頻率

2、共模抑制比，代表了探頭抑制共模干擾的能力，越大代表抑制能力越強

3、輸入電容，代表探頭對于被測系統的負載影響，輸入電容越低，影響越小測試效果越佳

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公司目前致力于示波器測試附件配件研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售，涵蓋產(chǎn)品包含電流探頭、差分探頭、高壓探頭、無(wú)源探頭、電源紋波探頭、柔性電流探頭、近場(chǎng)探頭、邏輯探頭、功率探頭和光探頭等。