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1.導通測試 導通測試是線(xiàn)束中必須相連接的點(diǎn)是否準確的連接。通常人們用的方法是線(xiàn)路的一端，施以一定額的電流，并在另一端探查是否有相對應的電流流出，而獲知該路徑是否接通，再進(jìn)一步量測兩端的電壓差，計算該導線(xiàn)的電阻值，此要對線(xiàn)束逐點(diǎn)進(jìn)行點(diǎn)對點(diǎn)的測試。 在多線(xiàn)束導通測試的過(guò)程中，如果有錯誤發(fā)生，不論是斷線(xiàn)、短路或接線(xiàn)錯誤，通常最大的困難就是找到真正的錯誤，是斷線(xiàn)未接，還是連接錯誤，還是線(xiàn)間短路等等。傳統上簡(jiǎn)單的線(xiàn)束測試器中，通常是一對一的導通測試及一對一的絕緣測試。這種方法對于復雜的線(xiàn)束拓撲結構，經(jīng)常無(wú)法檢測涵蓋所有錯誤，即使發(fā)現有錯誤，仍不能很快的掌握實(shí)際的狀況。 線(xiàn)束的正常連接及常見(jiàn)失效如下圖所示： 線(xiàn)束導通測試示意圖 ATX-3000線(xiàn)束測試儀導通測試原理：給需要測試的線(xiàn)束施加一定電流，測量線(xiàn)纜端點(diǎn)處的電壓值和電流值，由測試儀內部對測量結果使用歐姆定律進(jìn)行換算，得出準確的電阻值。用此電阻值與用戶(hù)設定的電阻值進(jìn)行比較，判定是否有質(zhì)量隱患。導通測試原理圖如圖： 線(xiàn)束測試儀導通測試原理圖 該導通測試功能通過(guò)快速自學(xué)習保存一個(gè)正確標準，便可得出未知電纜線(xiàn)束連接關(guān)系，省去手工輸入接線(xiàn)關(guān)系的不便和繁瑣工序，判斷連接關(guān)系是否正確，是否有短路、斷路、誤配線(xiàn)等質(zhì)量隱患。 本方案中，線(xiàn)束測試儀主機選用高性能DSP和FPGA核心芯片，FPGA的工作頻率由FPGA芯片以及設計決定系統時(shí)鐘頻率較高，CPLD內部采用固定長(cháng)度的金屬線(xiàn)進(jìn)行各邏輯塊的互連，所以設計的邏輯電路具有時(shí)間可預測性,確保導通速度不低于0.5S/點(diǎn)，其中具體環(huán)節測試時(shí)間如下表所示。 2.電阻測試線(xiàn)束測試儀ATX-3000電阻測試基于開(kāi)爾文電橋的四線(xiàn)隔離法進(jìn)行測試。四線(xiàn)測試法技術(shù)是被高精度電路測量系統所采用的一種電阻測試方法，四線(xiàn)測試方法是利用Kelvin電橋測試法進(jìn)行電阻測量，并采用24位ADC保證在低電流的情況下滿(mǎn)足微電阻的精確度。當被測電阻阻值較小時(shí)，利用這種測試方法可獲得非常精確的測試結果。此測試法是利用直接從被測電阻兩端讀取電壓的方法，可以消除測試導線(xiàn)帶來(lái)的誤差累積，尤其是在測長(cháng)距離和多轉接終端電阻阻值時(shí)，可補償線(xiàn)束測試儀內部和線(xiàn)間電阻誤差。 Kelvin電橋測試法原理圖 兩線(xiàn)制測電阻會(huì )引入線(xiàn)上電阻，如圖所示： 四線(xiàn)制測電阻電壓表的電流保持在最低限度，避免了導線(xiàn)的電阻所引起的誤差，提高電阻測量精度，如圖所示： Aigtek安泰電子研究的ATX-3000線(xiàn)束測試儀，采用計算機輔助測試技術(shù)，將控制系統、人機交互模塊、測試功能電路和繼電器陣列集成在一起，自動(dòng)化程度比較高，一定程度上提高了測試精度和效率。能夠實(shí)現對整機電纜的短路、斷路、絕緣和耐壓故障進(jìn)行檢測以及對二極管、繼電器、開(kāi)關(guān)等電子元器件的可靠性進(jìn)行測試。系統的測量控制單元采取模塊化設計，系統的每個(gè)分布式開(kāi)關(guān)單元有多達4096 點(diǎn)的測試容量，測試速度快;系統測試容量大，且擴展方便。 通過(guò)以上的介紹，相信您對于線(xiàn)束測試儀低壓測試原理有了清晰的了解，如想了解更多，請持續關(guān)注安泰電子。 |
