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用戶(hù)會(huì )出于各種原因而需要測量器件的阻抗。一個(gè)典型的情況是工程師們需要對用在其所設計的電路中的器件的阻抗特性進(jìn)行測量，因為通常情況下這些器件的供應商只給出了器件阻抗值的額定數據。 測量阻抗有幾種不同的技術(shù)和方法，應該根據測量的頻率范圍、要測量的阻抗參數以及想要顯示的測量結果來(lái)選擇一個(gè)具體的測試技術(shù)。 自動(dòng)平衡電橋技術(shù)在從毫歐到兆歐很寬的阻抗測量范圍內有極高的測量精度，與之相適應的測量頻率范圍可以從幾 Hz 到 110 MHz。 IV 和 RF-IV 技術(shù)在從毫歐姆到兆歐姆的阻抗測量范圍內的測量精度同樣很好，與之相適應測量頻率范圍可以從 40 Hz 到 3 GHz 左右。 傳輸 / 反射技術(shù)在非常寬的頻率范圍，從 5 Hz 到 110 GHz 以上，測量 50 歐姆或 75 歐姆附近的阻抗值時(shí)，具有非常高的測量精度。 LCR 表和阻抗分析儀的主要區別之一是它們對測量結果的顯示方式。 LCR 表用數字顯示測量結果，而阻抗分析儀既可以用數字也可以用圖形顯示測量結果。 LCR 表或阻抗分析儀所采用的測量技術(shù)和儀表的類(lèi)型無(wú)關(guān)，根據測量的頻率范圍，它們可以采用 RF-IV、IV 或自動(dòng)平衡電橋技術(shù)。 器件阻抗的測量結果還會(huì )受到在測量時(shí)所選擇的測量信號的大小的影響。 電容值 ( 或材料的介電常數，即 K值 ) 的測量結果會(huì )依賴(lài)于交流測量信號電壓值的大小。 電感值 ( 或材料的磁滯特性 ) 的測量結果會(huì )依賴(lài)于交流測量信號電流值的大小。 在測量時(shí)實(shí)際施加在被測器件兩側的交流電壓 VDUT 是和它自身的阻抗、信號源的內阻以及信號源的輸出電壓有關(guān)的。 使用儀表的自動(dòng)電平控制 (ALC)功能可使被測器件 (DUT) 兩側的電壓保持在一個(gè)恒定的值上。如果儀表內部沒(méi)有 ALC 功能但是有監測信號大小的功能，可以利用這個(gè)功能給這種儀表編寫(xiě)一個(gè)相當于 ALC 功能的控制程序來(lái)保證被測器件兩端上的電壓穩定。 在現實(shí)世界中沒(méi)有器件是純粹的的電阻、純粹的電容、純粹的電感。任何常用的器件通常都會(huì )有一些寄生參數 ( 例如由器件的引腳、材料等引起的寄生電阻、寄生電感和寄生電容 ) 存在，表現器件主要特性的部分和寄生參數部分結合在一起會(huì )使一個(gè)簡(jiǎn)單的器件在實(shí)際工作中表現得就像一個(gè)復雜的電路一樣。 西安安泰電子發(fā)布，Aigtek是國內專(zhuān)業(yè)從事測量?jì)x器研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售的高科技企業(yè)，一直專(zhuān)注于功率放大器、線(xiàn)束測試儀、計量校準源等測試儀器產(chǎn)品的研發(fā)與制造。通過(guò)以上的介紹，相信您對超聲探傷有了清晰的了解，如想了解更多有關(guān)相關(guān)科普，請持續關(guān)注安泰電子。 |
