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作者：Minhaaz Shaik，產(chǎn)品應用工程師 摘要 本文提供一種校準數模轉換器(DAC)的方法，專(zhuān)用于引腳電子器件驅動(dòng)器、比較器、負載、PMU和DPS。DAC具有差分非線(xiàn)性(DNL)和積分非線(xiàn)性(INL)等非線(xiàn)性特性，我們可以通過(guò)增益和偏置調整來(lái)盡可能降低這些特性。本文描述如何執行這些校準，以改善電平設置性能。 簡(jiǎn)介 自動(dòng)化測試設備(ATE)描述用于一次對單個(gè)或多個(gè)器件執行單次或一系列測試的測試儀器。不同類(lèi)型的ATE測試電子器件、硬件和半導體器件。定時(shí)器件、DAC、ADC、多路復用器、繼電器和開(kāi)關(guān)都是測試儀或ATE系統中的支持模塊。這些引腳電子器件可以利用精確的電壓和電流提供信號和電源。這些精密信號通過(guò)電平設置DAC進(jìn)行配置。在A(yíng)TE產(chǎn)品系列中，有些引腳電子器件包含校準寄存器，有些校準設置存儲在片外。本文介紹DAC的功能、誤差，以及如何通過(guò)增益和偏置調整進(jìn)行校準。 下載全文： 
【ADI技術(shù)文章】ATE引腳電子器件的電平設置DAC校準.pdf
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