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1. 測試對象 HD-G2UL-EVM基于HD-G2UL-CORE工業(yè)級核心板設計，一路千兆網(wǎng)口、一路CAN-bus、 3路TTL UART、LCD、WiFi、CSI 攝像頭接口等，接口豐富，適用于工業(yè)現場(chǎng)應用需求，亦方便用戶(hù)評估核心板及CPU的性能。 HD-G2UL-CORE系列工業(yè)級核心板基于RZ/G2UL微處理器配備Cortex®-A55 (1 GHz) CPU、16位DDR3L/DDR4接口。此外，這款微處理器還配備有大量接口，如攝像頭輸入、 顯示輸出、USB 2.0 和千兆以太網(wǎng)，因此特別適用于入門(mén)級工業(yè)人機界面(HMI)和具有視頻功能的嵌入式設備等應用。 圖1.1 HD-G2UL-EVM評估板 1. 測試目的 低溫存儲測試的主要目的是測試設備的可靠性和穩定性。 低溫存儲測試可以模擬設備在極端溫度條件下的工作環(huán)境，例如極寒的氣候或高空環(huán)境。測試過(guò)程中，設備將處于非常低的溫度下，可能會(huì )導致某些部件或系統出現故障或性能下降。通過(guò)測試設備在這種條件下的性能和可靠性，可以幫助制造商確定是否需要改進(jìn)設計或使用更可靠的組件。 在低溫存儲測試之后，啟動(dòng)開(kāi)發(fā)板的目的是檢查設備是否能夠正常啟動(dòng)并運行。這可以驗證設備在低溫條件下的可靠性和穩定性，以及設備在此條件下的操作是否符合預期。如果設備無(wú)法正常啟動(dòng)或運行，測試結果將指示可能需要改進(jìn)設計或使用更可靠的組件。 總之，低溫存儲測試和啟動(dòng)開(kāi)發(fā)板的目的是為了驗證設備的可靠性和穩定性，并確定是否需要改進(jìn)設計或使用更可靠的組件。 2. 測試結果 表2.1 測試結果 3. 測試準備 1.2套HD-G2UL-EVM評估板、網(wǎng)線(xiàn)、Type-C數據線(xiàn)，電腦主機。 2.高低溫試驗箱。 4. 測試環(huán)境 圖4.1 測試環(huán)境 5. 測試過(guò)程 5.1-40℃低溫啟動(dòng) 將環(huán)境溫度設置-40℃，如圖5.1所示。被測試樣機低溫存儲2小時(shí)，2小時(shí)后上電啟動(dòng)。 圖5.1 高低溫試驗箱 上電后兩套HD-G2UL-EVM評估板啟動(dòng)正常，未出現系統異常死機等情況。此時(shí)環(huán)境溫度-40℃，兩套評估板CPU溫度分別為-18.5℃和-19.5℃，如圖5.3圖5.3所示。 圖5.2 圖5.3 6. 關(guān)于HD-G2UL-EVM-IOT 6.1硬件參數 HD-G2UL-EVM-IOT板載的外設功能：
HD-G2UL-EVM-CORE核心板硬件資源參數： 注：受限于主板的尺寸與接口布局，核心板部分資源在IoT底板上引出。 |
