如何在挑戰性環(huán)境中優(yōu)化BLDC電機驅動(dòng)器的熱性能

發(fā)布時(shí)間:2023-5-24 14:52    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: BLDC , 電機驅動(dòng)器 , 熱性能
來(lái)源:Digi-Key
作者:Jeff Shepard

無(wú)刷直流 (BLDC) 電機越來(lái)越多地用于熱條件苛刻的環(huán)境中,如電動(dòng)汽車(chē) (EV) 等汽車(chē)環(huán)境以及如機器人、制造設備等工業(yè)應用環(huán)境。對于設計者來(lái)說(shuō),有效的熱管理是確保 BLDC 電機驅動(dòng)器可靠運行的關(guān)鍵考慮因素。為此,他們需要特別注意功率 MOSFET 和柵極驅動(dòng) IC 的開(kāi)關(guān)頻率、效率、工作溫度范圍和外形尺寸,同時(shí)還需要確保這些器件符合 AEC-Q101、生產(chǎn)件批準程序 (PPAP) 和國際汽車(chē)工作組 (IATF)16949:2016(如適用)等規范。

此外,柵極驅動(dòng)器應與標準晶體管-晶體管邏輯門(mén) (TTL) 和 CMOS 電壓水平兼容,以簡(jiǎn)化與微控制器 (MCU) 的接口。此外,柵極驅動(dòng)器還需能夠保護 MOSFET 不受各種故障的影響,并需要有匹配良好的傳播延遲來(lái)實(shí)現高效的高頻運行。

為此,設計人者可以將雙 N 溝道增強模式 MOSFET 與高頻柵極驅動(dòng)器 IC 配對,以構建緊湊、高效的解決方案。

本文首先介紹設計 BLDC 電機驅動(dòng)器時(shí)需要考慮熱管理因素,然后簡(jiǎn)要總結 AEC-Q101、PPAP 和 IATF 16949:2016 標準的要求。接下來(lái),以 Diodes, Inc 的高性能 雙 N 溝道增強模式 MOSFET 和相匹配的柵極驅動(dòng)器 IC 為例進(jìn)行介紹,這些產(chǎn)品適用于汽車(chē)和工業(yè) BLDC 電機驅動(dòng)系統。本文最后討論 BLDC 驅動(dòng)電路的 PC 板布局注意事項,包括盡可能減少電磁干擾 (EMI) 和優(yōu)化熱性能。

BLDC 和換向

BLDC 和有刷電機的關(guān)鍵區別在于,BLDC 需要在 MCU 控制下實(shí)現換向。這就要求有能力檢測轉子的旋轉位置。位置檢測可通過(guò)電流檢測電阻霍爾效應傳感器來(lái)完成。將霍爾效應傳感器以 120° 間隔安裝在電機內部,是常見(jiàn)、準確且有效的位置檢測方法。

這種方法包括采用六個(gè)功率 MOSFET 組成的橋式配置來(lái)驅動(dòng)一臺三相 BLDC 電機;魻栃獋鞲衅鳟a(chǎn)生數字信號,MCU 利用此信號來(lái)確定電機位置,然后產(chǎn)生驅動(dòng)信號,按照所需的順序和速度開(kāi)關(guān) MOSFET,以控制電機運行(圖 1)?煽匦允鞘褂 BLDC 電機的一個(gè)主要好處。


圖 1:在三相 BLDC 電機中,采用三個(gè)霍爾效應傳感器提供控制六個(gè)功率 MOSFET 開(kāi)關(guān)所需的位置信息。(圖片來(lái)源:Diodes, Inc.)

處理傳播延遲問(wèn)題

MCU 產(chǎn)生的控制信號太弱,不能直接用于驅動(dòng)功率 MOSFET,所以使用柵極驅動(dòng) IC 來(lái)放大 MCU 的信號。然而,柵極驅動(dòng) IC 的引入也帶來(lái)了一定程度的控制信號傳播延遲。此外,半橋柵極驅動(dòng)器中的兩個(gè)通道的響應時(shí)間略有不同,導致傳播延遲出現偏移。在最嚴重的情況下,高壓側開(kāi)關(guān)可以在低壓側開(kāi)關(guān)完全斷開(kāi)之前接通,從而導致兩個(gè)開(kāi)關(guān)同時(shí)導通。如果發(fā)生這種情況,將會(huì )出現短路并導致電機驅動(dòng)器或電機損壞。

我們有幾種方法來(lái)已應對傳播延遲問(wèn)題。其中一種方法涉及到使用快速 MCU,其反應速度足以補償傳播延遲。這種方法有兩個(gè)潛在問(wèn)題,需要更昂貴的 MCU 并且 MCU 在開(kāi)關(guān)過(guò)程中會(huì )引入死區時(shí)間帶,以確保這兩個(gè)開(kāi)關(guān)始終不會(huì )同時(shí)閉合。這種死區時(shí)間延遲了整個(gè)切換過(guò)程。

在大多數應用中,首選替代方案是使用具有短傳播延遲的柵極驅動(dòng)器。高性能柵極驅動(dòng)器 IC 還包括防跨導邏輯,可進(jìn)一步提高系統可靠性(圖 2)。


圖 2:高性能柵極驅動(dòng) IC 除了具有最小的傳播延遲外,還包括防跨導邏輯(左中)。(圖片來(lái)源:Diodes, Inc.)

保持冷卻

安全和精確地驅動(dòng)功率 MOSFET 是 BLDC 電機可靠運行的關(guān)鍵,保持功率 MOSFET 冷卻同等重要。與功率半導體的熱管理有關(guān)的兩個(gè)重要規格是結對外殼的熱阻 (RθJC) 和結對環(huán)境的熱阻 (RθJA)。這兩個(gè)參數以 ℃/W 為單位。RθJC 是特定的器件和封裝的結對外殼熱阻。這是一個(gè)固定量,取決于諸如芯片尺寸、芯片連接材料和封裝熱特性等多種因素。

RθJA 是一個(gè)更廣泛的概念:包括 RθJC 加上焊點(diǎn)和散熱器的溫度系數。對于功率 MOSFET,RθJA 可能比 RθJC 大 10 倍。保持 MOSFET 的封裝(外殼)溫度 (TC) 受控是一個(gè)關(guān)鍵考慮因素(圖 3)。這意味著(zhù)在為功率 MOSFET 開(kāi)發(fā)熱管理解決方案時(shí),電路板布局和散熱器等因素非常重要。幾乎所有在 MOSFET 中產(chǎn)生的熱量都將通過(guò) PC 板上的導熱銅墊/散熱器發(fā)散。


圖 3:RθJA 是衡量熱耗散的一個(gè)關(guān)鍵指標,可能比 RθJC 大 10 倍。(圖片來(lái)源:Diodes, Inc.)

汽車(chē)標準

為了用于汽車(chē)應用,這些器件還必須滿(mǎn)足一個(gè)或多個(gè)行業(yè)標準,具體包括 AEC-Q100、AEC-Q101、PPAP 和 IATF 16949:2016 標準。AEC-Q100 和 AEC-Q101 是用于汽車(chē)應用中的半導體器件的可靠性標準。PAPP 是說(shuō)明文檔和跟蹤標準,而 IATF 16949:2016 是基于 ISO 9001 的質(zhì)量標準。更具體地說(shuō):

AEC-Q100 是一種基于故障機理的壓力測試標準,適用于封裝集成電路,具體包括四個(gè)環(huán)境工作溫度范圍或等級:

· 0 級:-40℃ 至 +150℃
· 1 級:-40℃ 至 +125℃
· 2 級:-40℃ 至 +105℃
· 3 級:-40℃ 至 +85℃

AEC-Q101 規定了如功率 MOSFET 等分立式器件的最低應力測試驅動(dòng)要求和條件,并規定工作溫度為 -40°C 至 +125°C。

PPAP 是一個(gè)針對新部件或修改部件的 18 步批準程序。該批準程序旨在確保組件始終滿(mǎn)足各項指定要求。PPAP 有五個(gè)標準的提交等級,具體要求由供應商和客戶(hù)協(xié)商確定。

IATF 16949:2016 是一個(gè)基于 ISO 9001 的汽車(chē)質(zhì)量體系,以及由汽車(chē)行業(yè)客戶(hù)提出的特定要求。該標準要求由第 3 方審核機構進(jìn)行認證。

雙功率 MOSFET

為了實(shí)現高效的 BLDC 電機驅動(dòng),設計者可以使用諸如適合工業(yè)應用的 Diodes Inc. DMTH6010LPD-13 等雙 N 溝道增強型場(chǎng)效應晶體管,以及符合 AEC-Q101 的汽車(chē)應用的 DMTH6010LPDQ-13 器件。這兩個(gè)部件都獲得了 PPAP 支持,并由獲得 IATF 16949 認證的工廠(chǎng)制造。這類(lèi) MOSFET 器件具有 2615 pF 低輸入電容 (Ciss),可支持快速開(kāi)關(guān),并具有 11 mΩ 低導通電阻 (RDS(on)),以實(shí)現高轉換效率,使其適合高頻、高效應用。這類(lèi)器件具有 10 V 柵極驅動(dòng),額定工作溫度為 +175°C,采用 5 mm x 6 mm PowerDI5060-8 封裝,具有較大的漏極焊盤(pán)以實(shí)現高熱耗散(圖 4)。具體熱規格包括:

· 穩態(tài) RθJA 為 53°C/W,安裝在含有 2 盎司銅的 FR-4 電路板上,并有熱過(guò)孔通向由 1 英寸方形銅板構成的底層。
· RθJC 為 4°C/W
· 額定溫度為 +175°C


圖 4:DMTH6010LPD-13 和 DMTH6010LPDQ-13 通過(guò)其 PowerDI5060-8 封裝的大型漏極焊盤(pán)實(shí)現高熱耗散。(圖片來(lái)源:Diodes, Inc.)

雙 MOSFET 柵極驅動(dòng)器

為了驅動(dòng)雙功率 MOSFET,設計者可以使用以下任一種半橋柵極驅動(dòng)器:適合工業(yè)應用的 DGD05473FN-7 或適合汽車(chē)系統的 AEC-Q100 認證 DGD05473FNQ-7。這兩款器件獲得了 PPAP 支持,并由獲得 IATF 16949 認證的工廠(chǎng)制造。輸入與 TTL 和 CMOS 電平兼容(低至 3.3 V),以簡(jiǎn)化與 MCU 的連接,浮動(dòng)高壓側驅動(dòng)器的額定電壓為 50 V。保護功能包括 UVLO 和防跨導邏輯(見(jiàn)圖 2)。集成陰極負載二極管有助于最大限度地減少 PC 板空間。其他特性包括:

· 20 ns 傳播延遲
· 5 ns 最大延遲匹配度
· 1.5 A 拉電流和 2.5 灌電流的最大驅動(dòng)電流
· 低于 1 µA 的待機電流
· AEC-Q100 1 級工作溫度范圍為 -40°C 至 +125°C

考慮了散熱和 EMI

為了使用上文詳述的 MOSFET 和驅動(dòng) IC 的電路板布局,最佳做法是將緊湊型設計與 MOSFET 的最大實(shí)際銅面積相結合,以確保最佳散熱。緊湊型設計會(huì )最大限度地減少回路面積,而短布線(xiàn)長(cháng)度會(huì )最大限度地減小電磁干擾,并減少電磁兼容性 (EMC) 問(wèn)題。

為了進(jìn)一步提高 EMC 和散熱性能,PC 板應包括一個(gè)堅實(shí)的內部接地平面和一個(gè)額外的底部電源平面。此外,還應使用單獨的內層來(lái)處理信號線(xiàn)。

MOSFET 的封裝對熱性能有很大影響。觀(guān)察 PowerDI5060-8、3 mm x 3 mm PowerDI3333-8 和 2 mm x 2 mm DFN2020-6 這三種封裝選擇,發(fā)現具有最大漏極焊盤(pán)的 PowerDI5060 具有最高的功率耗散,可達 2.12 W(圖 5)。


圖 5:與兩個(gè)較小的封裝相比,PowerDI5060(藍線(xiàn))的耗散功率更大。(圖片來(lái)源:Diodes, Inc.)

結束語(yǔ)

采用高效散熱型封裝的雙功率 MOSFET 可與相匹配的柵極驅動(dòng) IC 組合使用,為汽車(chē)、工業(yè)應用生產(chǎn)緊湊的高性能 BLDC 電機驅動(dòng)器。這些解決方案可以分別滿(mǎn)足 AEC、PPAP 和 IATF 的可靠性、說(shuō)明文檔和質(zhì)量標準要求。利用最佳的 PC 板布局,這些器件有助于設計者在實(shí)施 BLDC 電機驅動(dòng)器時(shí)達到最佳的熱性能和 EMC 性能。
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