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作者：ADI公司 Marie-Eve Carré 簡(jiǎn)介 此KWIK（技術(shù)訣竅與綜合知識）電路應用筆記提供了解決特定設計挑戰的分步指南。對于給定的一組應用電路要求，本文說(shuō)明了如何利用通用公式應對這些要求，并使它們輕松擴展到其他類(lèi)似的應用規格。 在任何采樣系統中，例如涉及ADC的測量系統中，有一種稱(chēng)為混疊的現象，它可能導致處于較高頻帶的信號“向下折疊”到奈奎斯特頻帶，使其與目標信號無(wú)法區分。奈奎斯特頻率是采樣速率fs的一半。由ADC采樣的電路帶寬應小于采樣速率的一半�；殳B會(huì )導致干擾信號和噪聲污染輸出，從而影響測量精度。圖1和圖2分別顯示了正確采樣（高采樣速率）和不正確采樣（低采樣速率）的例子。 下載全文： 
【ADI技術(shù)文章】常見(jiàn)問(wèn)題解答：如何設計采用Sallen-Key濾波器的抗混疊架構.pdf
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