namisoft智能云測試平臺如何助力射頻芯片測試？

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　　射頻芯片主要應用于無(wú)線(xiàn)通信和雷達系統等領(lǐng)域，其性能直接影響到通信系統的質(zhì)量。而namisoft智能云測試平臺會(huì )為射頻芯片測試提供軟硬件解決方案，實(shí)現高效快速的自動(dòng)化測試，并且給予結果反饋。
　　射頻芯片測試的重要性
　　射頻芯片能實(shí)現無(wú)線(xiàn)信號的發(fā)送、接收、放大、濾波、解調等功能，被廣泛應用在雷達、無(wú)線(xiàn)通信、衛星通訊等領(lǐng)域。這種對于通信質(zhì)量要求很高，因此射頻芯片測試是非常重要的。而且射頻系統中信號的頻率、相位等參數對通信質(zhì)量影響很大，精度要求高，因此實(shí)現射頻芯片自動(dòng)化測試可以極大提高測試效率和可靠性。
　　ATECLOUD射頻芯片自動(dòng)化測試優(yōu)勢
　　ns級高精度同步測試
　　靈活多工位擴展，高速并行測試，提高測試效率
　　支持批量測試
　　0代碼開(kāi)發(fā)，拖拽封裝指令搭建測試方案和項目，一鍵運行，快速實(shí)現自動(dòng)化測試
　　支持表征、功能評估和批量生產(chǎn)評估
　　數據分析功能，會(huì )以圖表形式展現匯總的數據，數據變化、波動(dòng)等清晰可見(jiàn)
　　根據所需的數據可以自定義數據報告并導出


　　ATECLOUD智能云測試平臺解決測試痛點(diǎn)
　　人工手動(dòng)測試，效率低，需要提高測試效率和準確性;
　　測試產(chǎn)品種類(lèi)繁多，測試方法多樣，客戶(hù)需要靈活的解決方案，以適應未來(lái)的變化和需求;
　　記錄測試數據量大，容易出錯，需要提高測試效率和準確性;
　　長(cháng)時(shí)間測試，工作量大，需要降低測試成本;
　　現有軟件系統迭代繁瑣且耗時(shí)，不能持續兼容新產(chǎn)品;
　　需要滿(mǎn)足特定的測試需求，如外購配件等;
　　需要符合自身芯片測試方法;
　　需要尋找國產(chǎn)化替代方案。
　　天宇微納研發(fā)的ATECLOUD智能云平臺專(zhuān)注于各類(lèi)儀器自動(dòng)化測試，該平臺簡(jiǎn)單、易上手操作，為用戶(hù)提供整體解決方案，并分析測試結果，給予反饋。