應對汽車(chē)檢測認證機構測試需求,泰克提供SiC性能評估整體測試解決方案

發(fā)布時(shí)間:2023-10-30 21:44    發(fā)布者:eechina
近年來(lái),在國家“雙碳”戰略指引下,汽車(chē)行業(yè)油電切換提速,截至2022年新能源汽車(chē)滲透率已經(jīng)超過(guò)25%。汽車(chē)電動(dòng)化浪潮中,半導體增量主要來(lái)自于功率半導體,根據 Strategy Analytics,功率半導體在汽車(chē)半導體中的占比從傳統燃油車(chē)的21%提升至純電動(dòng)車(chē)的55%,躍升為占比最大的半導體器件。

同其他車(chē)用電子零部件一樣,車(chē)規級功率半導體也須通過(guò)AEC-Q100認證規范所涵蓋的7大類(lèi)別41項測試要求。對于傳統的硅基半導體器件,業(yè)界已經(jīng)建立了一套成熟有效的測試評估流程。而對于近兩年被普遍應用于開(kāi)發(fā)800V超充技術(shù)的三代半導體碳化硅(SiC)材料而言,由于其面世時(shí)間較短,缺陷暴露不充分,失效機理不清晰,對其進(jìn)行科學(xué)有效的評估和驗證至關(guān)重要。

為了幫助產(chǎn)業(yè)更好的應對SiC所帶來(lái)的測試驗證挑戰,各大汽車(chē)檢測認證機構正逐步建立起符合AEC-Q100認證規范要求的完整SiC器件/模塊測試評估能力;而動(dòng)態(tài)可靠性測試作為整個(gè)評估體系的重要一環(huán),往往是機構在搭建相關(guān)驗證能力時(shí)所關(guān)注的焦點(diǎn)。泰克作為全球領(lǐng)先的測試測量設備商,針對SiC器件/模塊可提供以下全流程測試驗證解決方案,相關(guān)方案已被各大汽車(chē)檢測認證機構廣泛采用,備受好評。

SiC器件動(dòng)態(tài)特性測試系統(DPT1000A)
DPT1000A功率器件動(dòng)態(tài)測試系統由泰克科技領(lǐng)銜開(kāi)發(fā),專(zhuān)門(mén)用于針對三代半導體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測試,旨在解決客戶(hù)在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見(jiàn)的疑難問(wèn)題,包括如何設計高速工作的驅動(dòng)電路,如何適配多種芯片封裝形式,如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號測試,如何優(yōu)化和抑制測試過(guò)程中的噪聲和干擾。幫助客戶(hù)在研發(fā)設計和試產(chǎn)階段,快速評估器件性能,更快應對市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。



系統主要特點(diǎn):
▪  定制化系統設計 , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅動(dòng)電路;
▪  自動(dòng)化測試軟件,測試功能豐富 , 可以自動(dòng)配置參數,測試和生成數據報告;
▪  高帶寬/高分辨率測試設備 , 在高速開(kāi)關(guān)條件下準確表征功率器件;
▪  覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類(lèi)型,不同封裝芯片測試;
▪  可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復、Qg、短路測試、雪崩參數、RBSOA等測試功能。

SiC器件動(dòng)靜態(tài)綜合老化測試系統
HTXB-1000D動(dòng)靜態(tài)綜合老化測試系統針對以 SiC/GaN 為首的新型三代半導體功率器件,根據其特有的器件結構和失效機理,在加速老化條件下,有針對性的施加特定壓力條件 ( 包括靜態(tài)壓力和動(dòng)態(tài)壓力 ),用以測試功率器件器件的漏流指標,以及其他典型特性參數 ( 例如閾值開(kāi)啟電壓,導通電阻等關(guān)鍵指標 ),以表征器件的老化特性和工作壽命?梢宰屍骷a(chǎn)廠(chǎng)商和器件使用者在較短時(shí)間內了解新型功率器件的老化特性,以及長(cháng)期使用條件下的性能變化,為器件實(shí)際應用過(guò)程中可能出現的故障進(jìn)行預判和分析。
該動(dòng)靜態(tài)壓力綜合老化測試系統用于批量 SiC/GaN器件老化測試,通過(guò)測試數據可以研究SiC/GaN器件的典型參數在不同壓力條件下的變化特性,幫助客戶(hù)了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。



了解泰克SiC性能評估系統更多信息,https://www.tek.com.cn/edison-po ... eristic-test-system。

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