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在工業(yè)應用中，光學(xué)3D表面輪廓儀超0.1nm的縱向分辨能力能夠高精度測量物體的表面形貌，可用于質(zhì)量控制、表面工程和納米制造等領(lǐng)域。 與其它表面形貌測量方法相比，SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀達到納米級別的相移干涉法(PSI)和垂直掃描干涉法(VSI)，具有快速、非接觸的優(yōu)點(diǎn)。它結合了跨尺度納米直驅技術(shù)、精密光學(xué)干涉成像技術(shù)、連續相移掃描技術(shù)三大獨特技術(shù)，能夠濾除光源不均勻帶來(lái)的誤差，以超越0.1nm的縱向分辨能力，讓顯微形貌分毫畢現；以?xún)?yōu)于0.1%的臺階測量重復性，讓測量數據萬(wàn)千如一。 
在半導體行業(yè)，SuperViewW系列光學(xué)3D表面輪廓儀可用于檢測芯片表面缺陷和顆粒，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，從而將不良產(chǎn)品阻截在市場(chǎng)之外；IC封裝中用于測量減薄之后的厚度、晶圓的粗糙度、激光切割后的槽深槽寬，測量導線(xiàn)框架的粗糙度；在分立器件封裝中，測量QA對打線(xiàn)深度，彈坑深度。
減薄工序中粗磨和細磨后的硅片表面3D圖像，用表面粗糙度Sa數值大小及多次測量數值的穩定性來(lái)反饋加工質(zhì)量。在生產(chǎn)車(chē)間強噪聲環(huán)境中測量的減薄硅片，細磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次測量數據計算重復性為0.046987nm，測量穩定性良好。
彈坑深度測量 在涂層表面粗糙度和厚度的研究上，可以監測納米級結構的生長(cháng)過(guò)程，為科學(xué)研究提供了更準確的測量手段。 此外，不管是從超光滑到粗糙，還是低反射率到高反射率的物體表面，光學(xué)3D表面輪廓儀都能夠以?xún)?yōu)于納米級的分辨率，自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。
全透明表面、漫反射表面、鏡面反射表面，可測反射率：覆蓋近0%~100%的表面反射率。 光學(xué)3D表面輪廓儀具有高精度、高速度和高可靠性等優(yōu)點(diǎn)，在科學(xué)研究、質(zhì)量控制、表面工程和納米制造等領(lǐng)域中，發(fā)揮著(zhù)舉足輕重的作用。 |
