采用吉時(shí)利707B型或708B型半導體開(kāi)關(guān)矩陣主機設計用于半導體測量的高吞吐能力開(kāi)關(guān)系統

發(fā)布時(shí)間：2012-1-19 14:54    發(fā)布者：eechina
半導體特性分析實(shí)驗室、技術(shù)開(kāi)發(fā)實(shí)驗室、建模實(shí)驗室和可靠性實(shí)驗室經(jīng)常需要各種不同的源測量?jì)x器，并且需要連接至多個(gè)裝置。開(kāi)關(guān)系統可以確保測試條件和測量具有極高的可靠性。

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xjcent 發(fā)表于 2012-1-19 17:46:00
看看
rinllow6 發(fā)表于 2012-1-20 01:38:20
謝謝�。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。�！
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