ATECLOUD測試平臺助力自動(dòng)化測試：電源管理芯片測試方案

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　　電源管理芯片是電子設備中非常重要的組成部分，因此對電源芯片的要求也越來(lái)越嚴格，電源管理芯片測試成為非常重要的環(huán)節。
　　在納米軟件與江蘇某科技公司合作的電源管理芯片產(chǎn)線(xiàn)測試項目中，需要完成單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出系列微模塊的14個(gè)項目的自動(dòng)化測試。該公司之前是手動(dòng)測試，沒(méi)有自動(dòng)化測試基礎�？渴謩�(dòng)完成電源芯片產(chǎn)線(xiàn)批量測試，不僅耗時(shí)長(cháng)、無(wú)法規范測試流程、保證測試可靠性，而且無(wú)法進(jìn)行數據統一管理、滿(mǎn)足產(chǎn)線(xiàn)測試對報告的需求。因此，自動(dòng)化測試是必選的測試方式。

　　測試項目：
　　輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調整率、負載調整率、反饋端電壓；
　　欠壓關(guān)斷及欠壓恢復滯后、輸入偏置電流、輸出電流、輸出電流限制；
　　啟動(dòng)過(guò)沖及啟動(dòng)延時(shí)、負載躍變電壓、負載躍變恢復、效率(每路)；
　　效率曲線(xiàn)、工作開(kāi)關(guān)頻率測試、SW占空比測試、輸入輸出信號相位差測試。

　　那么，為什么會(huì )選擇納米軟件的電源管理芯片自動(dòng)化測試解決方案呢？

　　1. 測試系統兼容標準測試儀器，對接非標設備
　　由于需要測量電源管理芯片的多路電壓和電流，納米軟件提出萬(wàn)用表切換箱的解決方案，不僅解決一臺萬(wàn)用表無(wú)法滿(mǎn)足多點(diǎn)位自動(dòng)測試難題，而且還節省了用多臺萬(wàn)用表測的儀器成本。系統除了與該非標設備快速對接外，還可實(shí)現與直流電源、電子負載、示波器、萬(wàn)用表、測試工裝等設備通訊。

　　2. 滿(mǎn)足客戶(hù)多個(gè)產(chǎn)品數據導出在同一個(gè)報告的需求
　　由于電源管理芯片包含單入單出、單入雙出、單入三出、單入四出，為了對比、分析測試數據，需要將不同產(chǎn)品的數據導出在同一個(gè)報告中。

　　3. 滿(mǎn)足效率曲線(xiàn)分析的需求
　　該公司重點(diǎn)關(guān)注效率項目，需要分析不同條件下電源芯片的效率。ATECLOUD測試系統內含數據洞察功能，支持多圖表類(lèi)型、多方位分析數據，該功能可以展示電源管理芯片不同條件下的效率曲線(xiàn)。

　　ATECLOUD以用戶(hù)需求為導向，突破傳統測試限制，功能強大，滿(mǎn)足多樣化的測試需求，助力更多用戶(hù)實(shí)現自動(dòng)化測試。
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