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引言 內裝測試(BIT)是20世紀70年代美國在軍用測試領(lǐng)域提出的全新的技術(shù)概念，其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力，同時(shí)也使裝備系統的機動(dòng)性和保障性得到很大改善。20世紀70年代以來(lái)，以航天航空等國防工業(yè)領(lǐng)域為代表，國內在內裝測試及自診斷技術(shù)方面，主要處于技術(shù)跟蹤和理論研究階段。進(jìn)入20世紀90年代，火箭、衛星、飛機等飛行器的測試設備研制開(kāi)發(fā)基本上都是圍繞著(zhù) VXI總線(xiàn)來(lái)進(jìn)行。同時(shí)，在一些裝備系統內部也出現了以自檢功能為表現形式的內裝測試及自診斷技術(shù)的雛形[1]。本文擬將BIT技術(shù)應用在某型裝備控制系統中，它能對裝備控制系統實(shí)現設備數字化，可利用設備上計算機和相關(guān)信息接口來(lái)收集設備的工作信息，可對各功能模塊進(jìn)行實(shí)時(shí)監測，及時(shí)發(fā)現故障，將故障定位到現場(chǎng)可更換單元，快速指導維修人員進(jìn)行換件維修。 內裝測試關(guān)鍵技術(shù) 在裝備控制系統上實(shí)現內裝測試及自診斷，應包括內裝測試設備研制和自診斷方法研究及實(shí)現兩大部份。其中內裝測試主要有兩個(gè)方面：一是在被測對象內安裝測試裝置，從而在少用或不用外圍測試設備的情況下，完成裝備控制系統的性能測試;另一方面是在被測對象的系統設計時(shí)，對各部件進(jìn)行自檢功能設計，使各部件具有自檢測試功能，在全系統測試時(shí)，綜合各部件自檢功能完成測試和信息采集;而自診斷技術(shù)則包含了故障特征提取、知識庫建立和推理機算法實(shí)現等內容。具體實(shí)現時(shí)，首先將內裝測試設備采集的信息通過(guò)通訊接口發(fā)送到地面的計算機，同時(shí)自診斷算法也在地面的計算機上實(shí)現。待兩方面技術(shù)成熟后，再將測試設備和診斷軟件全部?jì)妊b在裝備控制系統內部，這即是BIT技術(shù)，BIT技術(shù)消除了裝備控制系統地面測試時(shí)需要將設備上所有被測信號通過(guò)眾多的測試電纜引到地面來(lái)檢測的繁瑣，同時(shí)使地面測試設備變得不再龐大、復雜，同時(shí)縮短了裝備測試前的準備工作時(shí)間，滿(mǎn)足了操作人員對裝備快速響應的要求。隨著(zhù)計算機技術(shù)的廣泛應用，數字化已經(jīng)是電子設備研制的方向。設備數字化以后，使得利用設備上計算機和相關(guān)信息接口來(lái)收集設備的工作信息成為可能。這樣既可以簡(jiǎn)化測試設備及其與裝備的連接關(guān)系，同時(shí)又為實(shí)現內裝測試及自診斷創(chuàng )造了條件。 由于設備空間的限制，內裝測試和自診斷技術(shù)必須要實(shí)現設備的小型化，其中包括計算機系統小型化、多通道高精度A/D和D/A變換器小型化和通訊接口小型化等[2]。同時(shí)，為了實(shí)現完全意義上的內裝測試和自診斷，必須解決內裝激勵方法研究和內裝激勵設備設計的關(guān)鍵技術(shù);此外，為了解決傳統內裝測試存在的故障不可復現、不能識別間歇故障等問(wèn)題，必須解決大容量小型化內裝存儲設備設計的關(guān)鍵技術(shù);為了完成內裝自診斷技術(shù)研究，必須解決故障知識庫建立的關(guān)鍵技術(shù)[3]。這幾項關(guān)鍵技術(shù)實(shí)現的好壞直接關(guān)系到內裝測試及自診斷系統性能的好壞。本文將主要對硬件設計和故障知識庫設計進(jìn)行詳細介紹。 BIT系統 內裝測試及自診斷系統包括信號調理模塊、數據采集模塊、數據存儲模塊、故障診斷、自激勵模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見(jiàn)圖1)。模擬電壓采集中信號調理電路負責完成對信號的差分放大、濾波和限幅等調理工作。邏輯量、頻率量、時(shí)間量和脈沖量采集中的信號調理電路負責完成對信號的限幅和數據緩沖等調理工作。光電隔離主要是為了把所測量的信號和計算機相隔離，這樣可以確保數據采集的讀數不會(huì )受到接地電勢差或共模電壓的影響。數據存儲模塊主要用來(lái)存儲一些內裝測試及自診斷系統的診斷信息，包括測量的數字信息、設備上的模擬量信息、開(kāi)關(guān)量信息、頻率信息、脈沖信息、信號檢測的粗故障信息以及這些信息的相應編碼信息等功能。裝備控制系統自激勵模塊主要實(shí)現單片機系統對裝備上控制系統的信號自激勵，同時(shí)也可以使地面計算機通過(guò)通訊電纜實(shí)現地面對裝備的自激勵控制。RS232/485接口模塊可以實(shí)現上位機與PC機通訊。自檢模塊主要是實(shí)現系統的自檢功能，在設計上是使ADuC812的 DA/AD通道形成回路，多余的DI/DO通道形成回路，從而對終端的模擬通道和數字通道的工作能力進(jìn)行自測試。DS12C887時(shí)鐘芯片主要是給系統提供標準時(shí)間基準，對存儲到Flash中的數據添加時(shí)間項，對PCM信息流傳輸的數據提供時(shí)間戳。本系統微處理器模塊選用ADI公司的ADuC812單片機(高性能的8通道5ms轉換時(shí)間、12位A/D轉換器、2個(gè)12位DAC，10.5kB的閃存E2PROM，具有3個(gè)16位計數/定時(shí)器和32條可編程I/O接口的8051/8052微控制器，256字節的SRAM)[4]。 
BIT系統硬件設計 BIT系統能完成模擬電壓、邏輯信號、頻率和時(shí)間的測量。 模擬電壓信號分壓 由于裝備控制系統的模擬量電壓范圍為±120V，因此將每一路模擬信號輸入到A/D轉換通道之前，為了減少轉換誤差，希望送來(lái)的模擬信號在A(yíng) /D轉換輸入的允許范圍內盡可能大，這就要求對采集到的信號的幅值進(jìn)行必要的調整，對信號進(jìn)行濾波、降壓等信號調理，選擇合適的放大倍數，使信號進(jìn)入模數轉換之前的電壓符合A/D轉換器的要求。 模擬電壓信號調理模塊是一個(gè)多路范圍為±120V電壓信號的調理模塊,用以將其外部輸入的不同幅值的電壓信號調整到0～5V范圍內，以保證 A/D轉換精度。通常要用分壓網(wǎng)絡(luò )分壓，電路如圖2所示。
分壓網(wǎng)絡(luò )的電壓衰減量為輸出電壓與輸入電壓之比，也等于R1C1的并聯(lián)阻抗Z1與R2C2的并聯(lián)阻抗的分壓比。分壓網(wǎng)絡(luò )的分壓比為：
只要分壓網(wǎng)絡(luò )元件參數滿(mǎn)足R1C1=R2C2的關(guān)系，分布電容的影響就可不予考慮。因此輸入到A/D轉換器件的電壓值為：
為了減小對電源的影響，通常R2和R1的值較大，而A/D的輸入阻抗Ri的值并非無(wú)窮大，所以實(shí)際輸入到A/D轉換器的電壓為：
如果A/D的輸入阻抗Ri和R2接近，將給測量帶來(lái)較大誤差。解決的方法是在分壓網(wǎng)絡(luò )與A/D間加一射極跟隨器，由于射極跟隨器的輸入阻抗Ri 近似無(wú)窮，對R2的影響不大，可有效的解決此問(wèn)題。 模擬電壓信號采集 經(jīng)過(guò)模擬電壓信號分壓后，其外部輸入的不同幅值的電壓信號被調整到0~5V范圍內，由于BIT系統中的微處理器其內包含了高性能的8路12位 ADC采集系統，可直接實(shí)現裝備控制系統模擬信號的A/D采樣，采集系統由模擬多路開(kāi)關(guān)、溫度傳感器、采樣保持電路(T/H)、ADC、+2.5V參考電壓和ADC轉換校正控制邏輯組成(見(jiàn)圖3)。
頻率信號測量 本設計中被測頻率信號為2kHz，其測量是采用8254定時(shí)計數的方式測量。 由于標準輸入時(shí)鐘脈沖的頻率為4MHz，而裝備系統需要測量的信號頻率為2kHz，其測量即是一個(gè)8254定時(shí)0.01S并對信號進(jìn)行計數20 的測量。由定時(shí)計數初值的公式可得N=T×f=0.01(s)×4MHz=40000，設計采用計數器1、2級聯(lián)作為定時(shí)器，由于我們要統計0.01s內的信號發(fā)生次數，也就是說(shuō)計數器1、2級聯(lián)定時(shí)，每到0.01s就通知中斷INT3，所以其工作方式設置如下：計數器1為模式2，計數器2為模式0。設計數器1的計數初值為N1，計數器2的計數初值為N2，且保證N1×N2=40000，然后將各自初值送入各自寄存器通道即可。 時(shí)間信號測量 在硬件連接上，計時(shí)采用中斷計時(shí)法，由于裝備系統設備要求，計時(shí)最大量為8S，所以測量計時(shí)量需要二個(gè)計數器級聯(lián)為32位來(lái)工作，硬件設計上仍是級聯(lián)計數器1和計數器2，GATE1與GATE2均通過(guò)反相器接的P1.0口，CLK1端接標準頻率脈沖4MHz，其硬件設計見(jiàn)圖4。計時(shí)具體計算方法為：
故障知識庫的建立 在建造故障診斷專(zhuān)家系統知識庫時(shí)，如何組織和處理專(zhuān)家經(jīng)驗知識和相關(guān)的技術(shù)文獻知識，決定著(zhù)故障診斷的有效性和準確性，我們把診斷過(guò)程中獲取的裝備控制系統故障模式、故障原因以故障樹(shù)的形式組織起來(lái)，并通過(guò)對該故障樹(shù)進(jìn)行定性分析，得出故障樹(shù)的最小割集，并將原故障樹(shù)在最小割集的基礎上簡(jiǎn)化，最后把相關(guān)的概念、事實(shí)以及它們之間的關(guān)系知識按關(guān)系模式表的結構組織起來(lái)，生成診斷知識庫。在裝備控制系統的故障診斷中，依據設備故障樹(shù)，形成關(guān)系知識規則的步驟如下：(1)故障樹(shù)邏輯簡(jiǎn)化，減少中間事件;(2)引進(jìn)多個(gè)不相容獨立事件，代替故障樹(shù)中相容事件;(3)將故障樹(shù)的事件轉化為概念命題;(4)分解故障樹(shù)為一系列單輸出分支—a輸入定義為關(guān)系規則前提，與門(mén)轉化為關(guān)系規則的前提組合條件、或門(mén)轉化為并列規則的前提、非門(mén)轉化為單結論的非規則以表示互斥關(guān)系，b輸出定義為關(guān)系規則結論，c重復Step a。 計算故障樹(shù)的最小割集 為了便于規則的描述，故障樹(shù)描述的規則必須只含最小割集的底事件。 本文采用下行法計算割集。這個(gè)算法的特點(diǎn)是根據故障樹(shù)的實(shí)際結構，從頂事件開(kāi)始，逐級向下尋找，找出割集。因為只從上下相鄰兩級來(lái)看，與門(mén)只增加割集階數(割集所含底事件數目)，不增加割集個(gè)數;或門(mén)只增加割集個(gè)數，不增加割集階數，所以規定在下行過(guò)程中，順次將邏輯門(mén)的輸出事件置換為輸入事件，遇到與門(mén)就將其輸入排在同一行(輸入事件的交(布爾積))，遇到或門(mén)就將其輸入事件各自排成一行(輸入事件的并(布爾和))，這樣直到全部換成底事件為止，這樣得到的割集通過(guò)兩兩比較，劃去那些非最小割集，剩下即為故障樹(shù)的全部最小割集。圖5是裝備控制系統中A/D板故障樹(shù)的割集計算，表1表示下行法求割集的過(guò)程。由表可知A/D板的最小割集為{B1}、{B2}、{B3}、{B4，B5}。
形成關(guān)系知識的規則 根據A/D板的最小割集和結元器件端電壓異常，用關(guān)系知識的規則步驟分析可得A/D板故障的規則如下： Rule1 IF A/D板故障且B1端電壓異常 Then B1壞; Rule2 IF A/D板故障且B2端電壓異常 Then B2壞; Rule3 IF A/D板故障且B3端電壓異常 Then B3壞; Rule4 IF A/D板故障且B4端電壓異常 Then B4壞; Rule5 IF A/D板故障且B5端電壓異常 Then B5壞。 從上面的規則建立過(guò)程可以得出，該方法將故障樹(shù)分析法與專(zhuān)家系統有機結合，使得知識工程師、領(lǐng)域專(zhuān)家、使用維修人員之間的交流與合作更加容易，消除建立知識庫的盲目性，確保了診斷知識的一致性和完備性、高可靠性;將數值計算過(guò)程和符號決策過(guò)程結合在一起，集成了多種形式的知識，有助于實(shí)現診斷的自動(dòng)化和診斷結果更準確可靠。因此，建立合理的裝備控制系統故障樹(shù)，將故障樹(shù)轉化為關(guān)系知識，這一過(guò)程是導出專(zhuān)家系統關(guān)系規則(診斷知識)的有效途徑。 結語(yǔ) 將BIT用于裝備控制系統，有效地避免異常的發(fā)生，提高控制系統運行的可靠性。BIT技術(shù)簡(jiǎn)化了裝備控制系統地面測試時(shí)需要將設備上所有被測信號通過(guò)眾多的測試電纜引到地面來(lái)檢測的繁瑣，同時(shí)使地面測試設備變得不再龐大、復雜，縮短了裝備測試前的準備工作時(shí)間，滿(mǎn)足了操作人員對裝備快速響應的要求。 參考文獻： [1] 曾天翔. 電子設備測試性及診斷技術(shù)[M]. 北京: 航空工業(yè)出版社, 1996 [2] Haller K A, Anderson K.Smart Build-in-test(BIT)[J]. IEEE 1985 AUTOTEST-CON, 1985:140-147 [3] 張寶珍, 曾天翔. 智能BIT技術(shù)[J]. 測控系統, 2008, 19(11):11-14 [4] 崔洪亮. 數字濾波在測試設備故障診斷中的應用[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(5) [5] 崔洪亮. 導彈測試設備故障診斷專(zhuān)家系統的設計與實(shí)現[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(6) 作者：崔洪亮 黃華 韋關(guān)潮 劉慶寶 牛萌 楊其 李超 徐利國 蒲源 第二炮兵青州士官學(xué)校 來(lái)源：電子產(chǎn)品世界 2010-2 |
