|
納芯微宣布推出全新基于A(yíng)MR（各向異性磁阻技術(shù)）的輪速傳感器NSM41xx系列。該系列產(chǎn)品通過(guò)集成先進(jìn)的磁性傳感敏感單元與ASIC技術(shù)，能夠精準監測車(chē)輪轉速，為防抱死制動(dòng)系統（ABS）、車(chē)身電子穩定系統（ESP）以及電動(dòng)轉向助力系統（EPS）等控制系統提供了有力支持，顯著(zhù)提升了車(chē)輛在復雜工況下的安全性和穩定性，為汽車(chē)安全出行保駕護航。 作為控制系統中的關(guān)鍵組件，輪速傳感器在車(chē)輛行駛過(guò)程中扮演著(zhù)至關(guān)重要的角色。它必須在高溫、嚴寒、潮濕等極端路況下穩定運行，同時(shí)抵御電磁干擾（EMI）等復雜環(huán)境因素的影響。因此，輪速傳感器不僅需要具備卓越的抗干擾能力，還要擁有出色的環(huán)境適應性。這些特性共同確保了其在各種工況下的功能安全、可靠性和精度，從而滿(mǎn)足汽車(chē)對高性能傳感器的嚴格要求。 NSM41xx系列輪速傳感器嚴格按照功能安全標準ISO 26262 ASIL B (D)要求開(kāi)發(fā)，支持ASIL D等級的系統，確保在極端條件下仍能保持高度的功能安全性和可靠性。此外，該系列產(chǎn)品滿(mǎn)足AEC-Q100 Grade 0的可靠性標準，并通過(guò)了頭部大客戶(hù)提出的超過(guò)30項嚴苛EMC測試要求。這些認證和測試結果充分證明了NSM41xx系列在極端工作溫度和復雜干擾工況下的卓越穩定性。無(wú)論是在城市道路的頻繁啟停、高速公路的長(cháng)時(shí)間穩定行駛，還是山區道路的爬坡、下坡以及崎嶇路面的顛簸行駛等復雜工況下，NSM41xx系列輪速傳感器均能精準測量車(chē)輪速度，為車(chē)輛的安全行駛提供可靠保障。 高靈敏度、強抗干擾能力 相比傳統的霍爾（Hall）技術(shù)，采用AMR技術(shù)的NSM41xx系列輪速傳感器的靈敏度有了顯著(zhù)提升。在相同磁輪對比中，其氣隙（airgap）比霍爾輪速傳感器提升了50%，在大空氣間隙下的抖動(dòng)（jitter）表現提升了3倍。這種性能的飛躍得益于A(yíng)MR傳感器獨特的設計結構和電路架構，使其在復雜電磁環(huán)境中展現出卓越的抗干擾能力，有效保障了測量數據的精準與穩定。 此外，NSM41xx系列的敏感單元采用納芯微的磁阻專(zhuān)利設計，并結合優(yōu)化算法與先進(jìn)封裝工藝。這些技術(shù)的融合確保了傳感器在極端駕駛條件下依然能夠保持高度可靠的性能，滿(mǎn)足高靈敏度輪速測量的需求。 高精度、高可靠性 在極端環(huán)境條件下，NSM41xx系列輪速傳感器也展現了卓越的穩定性和可靠性，支持-40℃至150℃的寬工作溫度范圍，確保汽車(chē)控制系統在高溫、低溫等極端環(huán)境下依然能夠精準、穩定地運行。 憑借先進(jìn)的振動(dòng)抑制算法和信號追蹤算法，NSM41xx系列能夠在顛簸路段等復雜工況下持續輸出高精度的輪速信號。即使在極其嚴苛的行駛條件下，它也能確保測量結果的精準與一致，為車(chē)輛的關(guān)鍵安全系統提供堅實(shí)可靠的保障，守護每一次安全出行。 多種型號可供選擇 NSM41xx系列輪速傳感器不僅兼容磁輪目標輪，還支持鐵輪目標輪的應用。納芯微產(chǎn)品出廠(chǎng)時(shí)自帶背磁，完美適配鐵輪需求，客戶(hù)無(wú)需進(jìn)行二次貼磁芯操作，從而省去了復雜的貼背磁及檢驗工序，大大簡(jiǎn)化了客戶(hù)的生產(chǎn)流程。 此外，NSM41xx系列支持多種通信協(xié)議，包括標準方波協(xié)議、PWM協(xié)議以及AK協(xié)議，為客戶(hù)提供靈活的配置選擇，滿(mǎn)足不同應用場(chǎng)景的需求，進(jìn)一步提升了產(chǎn)品的通用性和易用性。 高質(zhì)量、高品質(zhì) 在晶圓測試階段，NSM41xx系列的每一顆芯片均經(jīng)過(guò)嚴格的質(zhì)量檢測，包括DFT掃描測試和IDDQ測試，以提前篩選出晶圓制造過(guò)程中可能出現的缺陷。在最終檢驗階段（FT），NSM41xx系列的每一顆芯片還需經(jīng)歷三溫測試（-40℃、25℃、150℃），確保產(chǎn)品在交付前經(jīng)過(guò)全方位的嚴格測試。 此外，NSM41xx系列還具備多種內部診斷模式，能夠在出現違背功能安全的失效時(shí)，及時(shí)輸出報警信息，并使芯片進(jìn)入安全狀態(tài)，為客戶(hù)的系統提供全方位的保障。 可追溯性強 NSM41xx系列的封裝表面均印有二維碼，通過(guò)掃碼即可快速追溯對應的產(chǎn)品信息和封裝批次信息。同時(shí)，芯片內部的ASIC die所在晶圓位置坐標以及晶圓批次信息均存儲于內部的MTP（多次可編程存儲器）中。這一設計有助于輕松追蹤故障件的源頭信息，極大地簡(jiǎn)化了故障排查流程，為產(chǎn)品的質(zhì)量管控和問(wèn)題溯源提供了有力支持。 |
