便攜式相控陣探傷儀OmniScan X3 系列探傷儀

發(fā)布時(shí)間:2025-5-12 14:09    發(fā)布者:yjtwl2025
關(guān)鍵詞: 便攜式相控陣探傷儀
強大的相控陣工具箱
OmniScan X3系列探傷儀是一款集成了先進(jìn)全聚焦方式(TFM)和好用相控陣(PA)功能的全面無(wú)損檢測解決方案。這款便攜式設備專(zhuān)為提高檢測效率和準確性而設計,適用于各種復雜材料的缺陷識別。
核心特點(diǎn)與優(yōu)勢:
高效性能:采用堅固耐用且輕巧的設計,支持64晶片相控陣探頭,并能實(shí)現128晶片孔徑的TFM檢測,適合較厚或衰減性較強的材料。
創(chuàng )新的TFM成像技術(shù):提供高質(zhì)量成像,增強對小缺陷的靈敏度及噪聲材料中的穿透力。聲學(xué)影響圖(AIM)工具幫助用戶(hù)提前確認TFM聲波覆蓋范圍,優(yōu)化掃查計劃。
實(shí)時(shí)相位相干成像(PCI):從MXU 5.10版本開(kāi)始支持,增強了對難以檢測的小缺陷的識別能力。
遠程協(xié)作服務(wù)(X3 RCS):允許用戶(hù)共享屏幕、控制設備并主持視頻會(huì )議,便于遠程協(xié)作。
快速校準:高速信號跟蹤使得多組校準可在幾分鐘內完成,顯著(zhù)提升工作效率。
改進(jìn)的相控陣技術(shù):包括更高的脈沖重復頻率、單獨的TOFD菜單加速校準流程、800%高波幅范圍減少重新掃描需求等。
簡(jiǎn)化的工作流程:通過(guò)內置軟件MXU提供簡(jiǎn)化的菜單和直觀(guān)工具,涵蓋從設置到報告的所有步驟。

應用領(lǐng)域:
腐蝕監測:利用相控陣技術(shù)實(shí)現大面積覆蓋和出色的分辨率,簡(jiǎn)化腐蝕檢測過(guò)程。
焊縫檢測:適用于各類(lèi)焊接結構的缺陷檢測,包括薄至厚壁焊縫。
復合材料檢測:針對復合材料等衰減性強的材料,提供更好的信號分辨率。

型號選擇:
OmniScan X3 64:特別適合需要高分辨率成像的應用場(chǎng)景,如使用全部64晶片孔徑進(jìn)行TFM檢測,以及處理具有挑戰性的材料。
軟件支持:
MXU軟件:用于PAUT、TOFD和TFM檢測和分析,提供簡(jiǎn)化菜單和先進(jìn)工具,支持整個(gè)檢測工作流程。

兼容性:與之前版本的OmniPC軟件和OmniScan MX2、SX和MX探傷儀設置文件完全兼容,確保數據遷移順暢。
借助其卓越的功能集合,OmniScan X3不僅提升了檢測效率,還增強了結果的準確性和可靠性,是現代無(wú)損檢測的理想選擇。

便攜式相控陣探傷儀:https://industrial.evidentscientific.com.cn/zh/phasedarray/


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