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實(shí)驗名稱(chēng)：基于單端接觸原理的LED外延片無(wú)損檢測 實(shí)驗內容：基于單注入模式，使用新型檢測系統獲取LED外延片的電學(xué)參數與光學(xué)參數。 研究方向：LED外延片檢測 測試設備：光譜儀、函數信號發(fā)生器、ATA-2161高壓放大器、顯微鏡及成像系統、示波器、電腦等。 實(shí)驗過(guò)程： 圖1：實(shí)驗裝置原理圖 首先對LED外延片進(jìn)行光致發(fā)光（PL）測試，通過(guò)光譜儀獲取峰值波長(cháng)。然后，將測試設備按圖1所示連接完畢后，將待測LED外延片放置在ITO玻璃上，緩慢下降探針，直至LED外延片產(chǎn)生電致發(fā)光現象。通過(guò)光譜儀獲取峰值波長(cháng)，示波器獲取電學(xué)參數。最后，使用傳統的電致發(fā)光（針測）對LED外延片進(jìn)行測試。在保證光譜儀軟件顯示的相對強度在一致或接近時(shí)，獲取LED外延片的電學(xué)參數和光學(xué)參數。實(shí)驗結果： 圖2：SC-EL所獲得的光學(xué)參數與針測所獲得的光學(xué)參數 圖3：SC-EL所獲得的光學(xué)參數與針測所獲得的光學(xué)參數 由于針測獲得的數據最具有可靠性，因此將其作為標準值來(lái)比較PL測試與單端接觸電致發(fā)光（SC-EL）測試所獲得數據的準確性。實(shí)驗結果表明，SC-EL所獲得的光學(xué)參數與針測所獲得的光學(xué)參數更加接近并且不會(huì )對LED外延片造成機械性損傷（如圖2、圖3所示）。此外，SC-EL所獲取的電學(xué)參數與針測所獲取的電學(xué)參數（反向漏電流）具有同樣的趨勢，可以反映針測所獲取數據的水平（如圖4所示）。 圖4：針測所獲取數據的水平 高壓放大器推薦：ATA-2161 圖：ATA-2161高壓放大器指標參數 本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布，更多案例及產(chǎn)品詳情請持續關(guān)注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線(xiàn)，且具有相當規模的儀器設備供應商，樣機都支持免費試用。 |
