LED測試面臨的下一個(gè)重大挑戰：高功率LED模塊

發(fā)布時(shí)間：2012-4-23 11:57    發(fā)布者：eechina
關(guān)鍵詞： LED測試 , LED模塊 , 高功率
HPLED模塊雖然面臨巨大的測試挑戰，但完全可以克服。選用合適的測量?jì)x器，了解正確的連線(xiàn)方法，制造商便能開(kāi)發(fā)出既可以控制測試成本又能保持市場(chǎng)競爭力的自動(dòng)系統。

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rinllow6 發(fā)表于 2012-4-24 12:46:47
謝謝�。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。�！
SZYWJ 發(fā)表于 2012-5-2 20:25:36
xiandinghouxai 先頂后下  謝謝
pfdqwp 發(fā)表于 2012-5-8 08:18:28
kk...............................
pfdqwp 發(fā)表于 2012-5-8 08:18:36
ddddd
liao2015 發(fā)表于 2012-5-8 15:00:24
ding
liao2015 發(fā)表于 2012-5-8 15:00:33
ding
wbsh 發(fā)表于 2012-5-17 19:20:00
O(∩_∩)O謝謝
wbsh 發(fā)表于 2012-5-17 19:20:05
謝謝
daizhi1970 發(fā)表于 2012-7-29 13:52:10
O(∩_∩)O謝謝
daizhi1970 發(fā)表于 2012-7-29 13:52:15
O(∩_∩)O謝謝
daizhi1970 發(fā)表于 2012-7-29 13:52:19
O(∩_∩)O謝謝
daizhi1970 發(fā)表于 2012-7-29 13:52:23
O(∩_∩)O謝謝
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